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이 학술지의 논문 검색
Beam testing of the electrical field in semiconductor devices
Mil'shtein, S. Elsevier 1995 p.3-12
Electron and optical beam testing of integrated circuits using CIVA, LIVA, and LECIVA
Cole, E. I. Elsevier 1995 p.13-24
Jank, A.;Jung, M.;Lambert, M.;Lichter, G. Elsevier 1995 p.25-32
Batinic, M.;Weisbrodt, B.;Mertin, W.;Kubalek, E. Elsevier 1995 p.33-40
Locating radiation sensitive zones of integrated circuits using an ion-microprobe
Metzger, S.;Fischer, B. E. Elsevier 1995 p.41-46
Landrault, C.;Nouet, P. Elsevier 1995 p.47-54
New developments in beam induced current methods for the failure analysis of VLSI circuits
Chan, D. S. H.;Phang, J. C. H.;Lau, W. S.;Ong, V. K. S. Elsevier 1995 p.57-68
Novel electron-beam image-based failure localization techniques
Tsujide, T. Elsevier 1995 p.69-78
Analysis of latchup susceptibility to internal logical states by using a laser beam
Fouillat, P.;Lapuyade, H.;Maidon, Y.;Dom, J. P. Elsevier 1995 p.79-86
A study of backside laser-probe signals in MOSFETs
Seliger, N.;Habas, P.;Gornik, E. Elsevier 1995 p.87-94
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