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    반도체 공정 기술 = Processing technology for semiconductor device

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    https://www.riss.kr/link?id=M12472863

    • 저자
    • 발행사항

      성남 : 한국폴리텍 I 대학 성남캠퍼스, 2009

    • 발행연도

      2009

    • 작성언어

      한국어

    • 주제어
    • KDC

      569.4 판사항(4)

    • DDC

      621.38152 판사항(21)

    • ISBN

      9788993944006 93530

    • 자료형태

      일반단행본

    • 발행국(도시)

      경기도

    • 서명/저자사항

      반도체 공정 기술 = Processing technology for semiconductor device / 한국폴리텍 I 대학 성남캠퍼스 [편]

    • 형태사항

      vi, 286 p. : 삽화, 도표 ; 30 cm

    • 일반주기명

      참고문헌: p. 281-283, 색인수록

    • 소장기관
      • 국립중앙도서관 국립중앙도서관 우편복사 서비스
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    부가정보

    목차 (Table of Contents)

    • 목차
    • 제1장 반도체 특성 = 1
    • 제1절 반도체 개요 = 1
    • 1. 반도체의 정의 = 1
    • 2. 반도체 재료 = 1
    • 목차
    • 제1장 반도체 특성 = 1
    • 제1절 반도체 개요 = 1
    • 1. 반도체의 정의 = 1
    • 2. 반도체 재료 = 1
    • 제2절 물질의 구조 = 3
    • 1. 결정 = 3
    • 2. 결정 격자 = 3
    • 제3절 웨이퍼의 종류와 특성 = 9
    • 1. 웨이퍼 개요 = 9
    • 2. 웨이퍼 용어 = 10
    • 3. 웨이퍼의 종류 = 11
    • 제4절 원자구조 및 특성 = 13
    • 1. 원자구조와 주기율표 = 13
    • 제5절 에너지 대역과 반도체에서의 전하 캐리어 = 21
    • 1. 고체에서의 결합력과 에너지 대역 = 21
    • 2. 반도체 내의 전하 캐리어 = 27
    • 3. 반도체에서의 전도기구 = 35
    • 4. 비평형 과잉 캐리어 = 40
    • 제6절 접합 = 46
    • 1. PN 접합의 제조 = 46
    • 2. 평형상태의 PN 접합 = 48
    • 3. 평형상태의 PN 접합 에너지 대역구조 = 49
    • 4. 접촉전위차와 공간전하영역 = 50
    • 5. 공간전하 폭 = 52
    • 6. PN 접합의 바이어스 효과 = 53
    • 제7절 반도체 공정 = 56
    • 1. 반도체 기본공정 = 56
    • 2. 반도체 제조공정 = 57
    • 3. CMOS 제조공정 = 63
    • 제2장 산화공정 및 확산공정 = 73
    • 제1절 산화공정 = 73
    • 1. 산화공정의 원리 = 73
    • 2. 산화모델 = 75
    • 3. 산화방법 = 96
    • 4. 열처리공정 = 96
    • 제2절 확산공정 = 98
    • 1. 확산소스 = 98
    • 2. 확산의 분포 = 100
    • 3. 확산공정 = 105
    • 제3장 포토리소그래피 공정 = 112
    • 제1절 기본특성 = 112
    • 1. 사진석판기술의 발전 = 112
    • 2. 이미지형성 = 114
    • 3. 해상도 = 120
    • 4. 광원 = 121
    • 5. 초점심도 = 123
    • 6. 매스크 = 125
    • 제2절 감광제 형성공정 = 129
    • 1. 기본특성 = 133
    • 2. 감광막 형성공정 = 144
    • 제4장 식각공정 및 세정공정 = 140
    • 제1절 식각공정 = 140
    • 1. 식각원리 = 140
    • 2. 식각공정의 요구사항 = 145
    • 3. 식각방법 = 145
    • 4. 식각공정 = 156
    • 제2절 세정공정 = 164
    • 1. 세정공정 소스 = 164
    • 2. 세정방법 = 165
    • 3. 세정공정 = 167
    • 제5장 이온주입 공정 = 179
    • 제1절 기본특성 = 179
    • 1. 이온주입의 특성 = 179
    • 2. 이온주입의 원리 = 180
    • 3. 이온주입의 분포특성 = 182
    • 4. 결정결함의 발생 = 185
    • 5. 이온주입 기술의 변화 = 186
    • 6. 이온주입장치 = 187
    • 제2절 이온주입공정 = 193
    • 1. 다결정 실리콘의 이온주입 = 193
    • 2. n 및 p 웰의 이온주입 = 194
    • 3. 소오스 및 드레인의 이온주입 = 195
    • 제6장 화학기상증착 공정 = 197
    • 제1절 기본특성 = 197
    • 1. 박막의 특성 = 197
    • 2. 박막형성법의 분류 = 197
    • 3. 박막형성 장치의 분류 = 199
    • 제2절 박막형성 공정 = 200
    • 1. 화학기상증착법 = 200
    • 2. 상압 CVD법 = 207
    • 3. 저압 CVD법 = 208
    • 4. 플라즈마 CVD법 = 210
    • 5. 스핀코팅 CVD법 = 212
    • 제7장 금속 공정 = 216
    • 제1절 기본특성 = 216
    • 1. 금속층의 특성 = 216
    • 2. 옴성접촉 형성 = 216
    • 3. 비저항 = 218
    • 4. 금속 CVD의 종류 = 218
    • 5. 금속 CVD의 특성 = 220
    • 제2절 금속공정의 특성 = 221
    • 1. PVD 공정 = 221
    • 2. ALD 공정 = 231
    • 3. 스텝커버리지 = 234
    • 제3절 금속공정 = 237
    • 1. FEOL공정 = 기판공정 = 237
    • 2. MEOL공정 = 240
    • 3. BEOL공정 = 베선공정 = 237
    • 제8장 패키지공정 = 257
    • 제1절 기본특성 = 257
    • 1. 주요기능 = 257
    • 2. 패키지기술의 발전 = 258
    • 3. 패키지의 분류 = 260
    • 제2절 패키지공정 = 261
    • 1. 웨이퍼의 선별 - EDS법 = 261
    • 2. 웨이퍼 백그라인드 = 262
    • 3. 웨이퍼 절단 = 264
    • 4. 다이접착 = Die Mount 또는 Die Bond = 265
    • 5. 와이어(선) 본딩 = 267
    • 6. 몰딩 = 273
    • 7. 트리밍 및 포밍 = 273
    • 8. 리드선 가공 = 274
    • 9. 테이프 자동접착 = 275
    • 10. 다이코팅 = 277
    • 11. 마킹 및 출하 = 278
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