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ア ァ カ サ ザ タ ダ ナ ハ バ パ マ ヤ ャ ラ ワ ヮ ン イ ィ キ ギ シ ジ チ ヂ ニ ヒ ビ ピ ミ リ ウ ゥ ク グ ス ズ ツ ヅ ッ ヌ フ ブ プ ム ユ ュ ル エ ェ ケ ゲ セ ゼ テ デ ヘ ベ ペ メ レ オ ォ コ ゴ ソ ゾ ト ド ノ ホ ボ ポ モ ヨ ョ ロ ヲ ―

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      평면 이미지 기법에서 감쇠로 인한 측정 오차에 대한 연구 = Contributed Study on Measurement Errors due to Attenuation in Plannar Image technique

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      https://www.riss.kr/link?id=A30076827

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      In the analysis of the mass distribution and SMD(Sauter Mean Diameter), planar laser imaging technique is a convenient and useful one when compared to the mechanical patternator or PDPA(Phase Doppler Particle Analyzer). But recorded signals at cameras and intensity of laser are distorted by attenuation. Using experimental datum and assumptions, we study measurement errors due to attenuation in plannar image technique.
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      In the analysis of the mass distribution and SMD(Sauter Mean Diameter), planar laser imaging technique is a convenient and useful one when compared to the mechanical patternator or PDPA(Phase Doppler Particle Analyzer). But recorded signals at cameras...

      In the analysis of the mass distribution and SMD(Sauter Mean Diameter), planar laser imaging technique is a convenient and useful one when compared to the mechanical patternator or PDPA(Phase Doppler Particle Analyzer). But recorded signals at cameras and intensity of laser are distorted by attenuation. Using experimental datum and assumptions, we study measurement errors due to attenuation in plannar image technique.

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      2020-04-01 학회명변경 한글명 : 한국액체미립화학회 -> 한국분무공학회
      영문명 : 미등록 -> Institute for Liquid Atomization and Spray Systems-Korea      		 KCI등재
      2020-01-01 평가 등재학술지 유지 (재인증) KCI등재
      2020-01-01 학술지명변경 한글명 : 한국액체미립화 학회지 -> 한국분무공학회지 KCI등재
      2017-01-01 평가 등재학술지 유지 (계속평가) KCI등재
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      학술지 인용정보

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      기준연도 WOS-KCI 통합IF(2년) KCIF(2년) KCIF(3년)
      2016 0.54 0.54 0.4
      KCIF(4년) KCIF(5년) 중심성지수(3년) 즉시성지수
      0.34 0.3 0.487 0.11
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