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Current Status of Layer Transfer Process in Thin Silicon Solar Cell : a review
U. Gangopadhyay, K. Chakrabarty,S.K. Dhungel,Kim, Kyung-Hae,Yi, Jun-Sin,D. Majumdar,H. Saha The Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers 2004 p.41-49
Properties of Photoluminescience for AgInS2/GaAs Epilayer Grown by Hot Wall Epitaxy
Lee, Sang-Youl, Hong, Kwang-Joon The Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers 2004 p.50-54
Properties of Photoluminescience for AgInS2/GaAs Epilayer Grown by Hot Wall Epitaxy
이상열, Kwang- Joon Hong 한국전기전자재료학회 2004 p.50-54
The Effect of Processing Parameters on HTS Tube Characteristics
Jung, Sengho, Jang, Guneik,Ha, Dongwoo,Sung, Taehyun The Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers 2004 p.55-60
The Effect of Processing Parameters on HTS Tube Characteristics
Sengho Jung, 하동우,장건익,성태현 한국전기전자재료학회 2004 p.55-60
Park, Tae-Gone, Kim, Myong-Ho,Park, Min-Ho The Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers 2004 p.61-65
박태곤, Myong-Ho Kim,Min-Ho Park 한국전기전자재료학회 2004 p.61-65
Ferroelectric Properties of SBT Capacitor with Annealing Times
Cho, Choon-Nam, Lee, Joon-Ung The Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers 2004 p.66-70
Ferroelectric Properties of SBT Capacitor with Annealing Times
Choon-nam Cho, 이준웅 한국전기전자재료학회 2004 p.66-70
A CMOS Bandgap Reference Voltage Generator for a CMOS Active Pixel Sensor Imager
Kim, Kwang-Hyun, Cho, Gyu-Seong,Kim, Young-Hee The Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers 2004 p.71-75
SJR(SCImago Journal Rank)는 스페인 Consejo Superior de Investigaciones Cintificas의 Felix de Moya 교수에 의해 개발된 것으로, '모든 인용은 동등하지 않다'는 전제를 기반으로 둔 학술지의 영향력 지수입니다.
구글의 Page Rank 알고리즘의 영향을 받아 전체 인용 네트워크에서 노드에 점수를 매기는 방식으로, 명성이 높은 저널에서의 인용은 고득점으로 평가되어 같은 인용이라도 보다 높게 평가 됩니다. 또한 저널의 주제분야, 질과 명성이 모두 직접 영향을 미치는 평가 지료라고 할 수 있습니다.
Scopus 데이터의 인용정보를 활용하여 산출되며, Scopus에 등재되지 않은 OA 저널평가에도 유용합니다.