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The Analysis of p-MOSFET Performance Degradation due to BF2 Dose Loss Phenomena
Lee, Jun-Ha, Lee, Hoong-Joo The Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers 2005 p.1-5
The Analysis of p-MOSFET Performance Degradation due to BF2 Dose Loss Phenomena
이준하, 이흥주 한국전기전자재료학회 2005 p.1-5
Degradation of 0.2PMN-0.8PZT Multilayer Ceramic Actuators
Song, Jae-Sung, Koh, Jung-Hyuk,Jeong, Soon-Jong,Wee, Sang-Bong The Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers 2005 p.6-9
Degradation of 0.2PMN-0.8PZT Multilayer Ceramic Actuators
송재성, 정순종,Sang-Bong Wee,Jung-Hyuk Koh 한국전기전자재료학회 2005 p.6-9
Jang, Jae-Hoon, Jeong, Seong-Won,Lee, Hee-Young The Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers 2005 p.10-13
Jae-Hoon Jang, 이희영,Seong-Won Jeong 한국전기전자재료학회 2005 p.10-13
Cuong Nguyen Duy, Yoon, Soon-Gil The Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers 2005 p.14-17
Nguyen Duy Cuong, 윤순길 한국전기전자재료학회 2005 p.14-17
A Study on the Electrical Physical Properties of Organic Thin Films for Manufacture in Power Device
Song, Jin-Won, Lee, Kyung-Sup The Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers 2005 p.18-21
A Study on the Electrical Physical Properties of Organic Thin Films for Manufacture in Power Device
송진원, 이경섭 한국전기전자재료학회 2005 p.18-21
SJR(SCImago Journal Rank)는 스페인 Consejo Superior de Investigaciones Cintificas의 Felix de Moya 교수에 의해 개발된 것으로, '모든 인용은 동등하지 않다'는 전제를 기반으로 둔 학술지의 영향력 지수입니다.
구글의 Page Rank 알고리즘의 영향을 받아 전체 인용 네트워크에서 노드에 점수를 매기는 방식으로, 명성이 높은 저널에서의 인용은 고득점으로 평가되어 같은 인용이라도 보다 높게 평가 됩니다. 또한 저널의 주제분야, 질과 명성이 모두 직접 영향을 미치는 평가 지료라고 할 수 있습니다.
Scopus 데이터의 인용정보를 활용하여 산출되며, Scopus에 등재되지 않은 OA 저널평가에도 유용합니다.