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Etching Characteristics of Au Thin Films using Inductively Coupled CF4 / Cl2 / Ar Plasma
Kim Dong-Pyo, Kim Chang-Il The Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers 2003 p.1-4
Etching Characteristics of Au Thin Films using Inductively Coupled Cf4/Cl2/Ar Plasma
Dong-PyoKim, Chang-IlKim 한국전기전자재료학회 2003 p.1-4
A Layout-Based CMOS RF Model for RFIC's
Park Kwang Min The Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers 2003 p.5-9
Study on Electrical Properties of X-ray Sensor Based on CsI:Na-Selenium Film
Park Ji-Koon, Kang Sang-Sik,Lee Dong-Gil,Choi Jang-Yong,Kim Jae-Hyung,Nam Sang-Hee The Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers 2003 p.10-14
Study on Electrical Properties of X-ray Sensor Based on ScI:Na-Selenium Film
Ji-KoonPark, Sang-SikKang,Dong-GilLee,Jang-YongChoi,Jae-HyungKim,Sang-HeeNam 한국전기전자재료학회 2003 p.10-14
Al2O3 Nano-Coating by Atomic Layer Deposition
Min Byung-Don, Lee Jong-Soo,Kim Sang-Sig The Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers 2003 p.15-18
Stress Simulation on Suspended Porcelain Insulators with Cement Displacement
Han S. W., Cho H. G.,Park G. H.,Lee D. I.,Choi I. H,Kim T. Y. The Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers 2003 p.19-24
Stress Simulation on Suspended Porcelain Insulators With Cement Displacement
S.W.Han, H.GCho,G.HPark,D.I.Lee,I.H.Choi,T.Y.Kim 한국전기전자재료학회 2003 p.19-24
SJR(SCImago Journal Rank)는 스페인 Consejo Superior de Investigaciones Cintificas의 Felix de Moya 교수에 의해 개발된 것으로, '모든 인용은 동등하지 않다'는 전제를 기반으로 둔 학술지의 영향력 지수입니다.
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