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Adhesion study of low-k/Si system using 4-point bending and nanoscratch test
Damayanti, M.; Widodo, J.; Sritharan, T.; Mhaisalkar, S. G.; Lu, W.; Gan, Z. H.; Zeng, K. Y.; Hsia, L. C. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2005 p.193-198
Shape dependent resonance light scattering properties of gold nanorods
Zhu, J.; Huang, L.; Zhao, J.; Wang, Y.; Zhao, Y.; Hao, L.; Lu, Y. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2005 p.199-203
Kim, D. G.; Kim, J. W.; Jung, S. B. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2005 p.204-210
Organic thin-film transistors on plastic substrates
Lim, S. C.; Kim, S. H.; Lee, J. H.; Yu, H. Y.; Park, Y.; Kim, D.; Zyung, T. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2005 p.211-215
Ghorai, T. K.; Dhak, D.; Azizan, A.; Pramanik, P. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2005 p.216-223
Prabhakar Rao, P.; Lekshmi, R. P.; Chandran, M. R.; Ravindran Nair, K.; Koshy, P.; Vaidyan, V. K. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2005 p.224-228
Excitation transfer from porous silicon to polymer
Li, D.; Yang, D.; Zhou, C.; Que, D. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2005 p.229-231
Efficient red electrophosphorescent top-emitting organic light-emitting devices
Moon, D. G.; Pode, R. B.; Lee, C. J.; Han, J. I. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2005 p.232-237
Studies on the surface swelling of ion-irradiated silicon: Role of defects
Giri, P. K. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2005 p.238-243
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