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    반도체 공정용 저온 열처리로의 고효율 냉각시스템 설계에 관한 연구 = Study on Design of high Efficient Cooling System for Low Temperature Furnace in Semiconductor Processing

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    https://www.riss.kr/link?id=A101423392

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    다국어 초록 (Multilingual Abstract) kakao i 다국어 번역

    According to recent changes in industry for semiconductor devices, a low-temperature treatment has become a necessity. These changes relate to size refinement and the development of new materials. While variation in cooling efficiency does not affect the yield when using a high-temperature treatment, uniform cooling efficiency is necessary avoid "inconsistencies/bends" in low temperature treatments. However it is difficult to increase temperature stabilization in low temperature treatments. In this paper, using CFD (Computer Fluid Dynamics), we analyze and manipulate the design and input of the low-temperature system to attempt to control for temperature variations within the quartz tube, of which airflow appears to be a predominant factor. This simulation includes variable inputs such as airflow rate, head pressure, and design manipulations in the S.C.U. (Super Cooling Unit).
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    According to recent changes in industry for semiconductor devices, a low-temperature treatment has become a necessity. These changes relate to size refinement and the development of new materials. While variation in cooling efficiency does not affect ...

    According to recent changes in industry for semiconductor devices, a low-temperature treatment has become a necessity. These changes relate to size refinement and the development of new materials. While variation in cooling efficiency does not affect the yield when using a high-temperature treatment, uniform cooling efficiency is necessary avoid "inconsistencies/bends" in low temperature treatments. However it is difficult to increase temperature stabilization in low temperature treatments. In this paper, using CFD (Computer Fluid Dynamics), we analyze and manipulate the design and input of the low-temperature system to attempt to control for temperature variations within the quartz tube, of which airflow appears to be a predominant factor. This simulation includes variable inputs such as airflow rate, head pressure, and design manipulations in the S.C.U. (Super Cooling Unit).

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    참고문헌 (Reference)

    1 진홍종, "고로하부 액체유동에 대한 수치해석 사례 - 냉간유동" 한국연소학회 13 (13): 33-41, 2008

    2 J. Wang, "Real-Time Furnace Modeling and Diagnostics" 15 (15): 393-402, 2002

    3 D. I. Seol, "Heat Transfer Analysis in High Efficiency Electric Melting Furnace" KSME 1626-1631, 2007

    4 E. S. Jeong, "A study of Optimal Distribution of Gas Temperature in Directly-Fired Reheating Furnace" KSME 2122-2125, 2008

    5 D. S. Han, "A Numerical Study on Prediction of Internal Temperature in Electronic Melting Furnace with Thermal Characteristics Effect" 514-522, 2008

    1 진홍종, "고로하부 액체유동에 대한 수치해석 사례 - 냉간유동" 한국연소학회 13 (13): 33-41, 2008

    2 J. Wang, "Real-Time Furnace Modeling and Diagnostics" 15 (15): 393-402, 2002

    3 D. I. Seol, "Heat Transfer Analysis in High Efficiency Electric Melting Furnace" KSME 1626-1631, 2007

    4 E. S. Jeong, "A study of Optimal Distribution of Gas Temperature in Directly-Fired Reheating Furnace" KSME 2122-2125, 2008

    5 D. S. Han, "A Numerical Study on Prediction of Internal Temperature in Electronic Melting Furnace with Thermal Characteristics Effect" 514-522, 2008

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    2019-01-01 등재 등재학술지 유지 (계속평가) KCI등재
    2016-01-01 등재 등재학술지 유지 (계속평가) KCI등재
    2012-01-01 등재 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
    2010-03-25 학회명변경 한글명 : 한국반도체및디스플레이장비학회 -> 한국반도체디스플레이기술학회
    영문명 : The Korean Society of Semiconductor & Display Equipment Technology -> The Korean Society of Semiconductor & Display Technology
    KCI등재
    2010-03-25 학술지명변경 한글명 : 반도체및디스플레이장비학회지 -> 반도체디스플레이기술학회지
    외국어명 : Journal of the Semiconductor and Display Equipment Technology -> Journal of the Semiconductor & Display Technology
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    2009-01-01 등재 등재학술지 선정 (등재후보2차) KCI등재
    2008-01-01 등재 등재후보 1차 PASS (등재후보1차) KCI등재후보
    2006-01-01 등재 등재후보학술지 선정 (신규평가) KCI등재후보
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    기준연도 WOS-KCI 통합IF(2년) KCIF(2년) KCIF(3년)
    2016 0.29 0.29 0.26
    KCIF(4년) KCIF(5년) 중심성지수(3년) 즉시성지수
    0.21 0.18 0.217 0.02
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