동적 존 할당이 가능한 번인 시험 시스템

국문 초록 (Abstract)

번인 시험(burn-in test)은 초기 장애가 예측되는 반도체 소자들을 제거하기 위한 시험으로서, 보통 소자에 전압, 온도 및 시간 등의 가혹 조건을 가하며 행해진다. 이런 변인 시험을 위해서는 시험할 소자들을 가진 변인 보드들을 해당 슬롯(slot)들에 삽입할 필요가 있다. 이런 슬롯들의 집합을 존(zone)이라 부른다. 한 존을 구성하는 슬롯들은 동종 반도체 소자들을 가진 번인 보드들만을 가질 수 있다. 따라서 많은 이종 반도체 소자들의 시험을 위해서는 존 수가 많도록 번인 시험 시스템을 구성하는 것이 바람직하다. 존을 제어하는 존 컨트롤러는 번인 시험을 수행하고 결과를 수집하는 장치이다. 기존 시스템의 경우, 각 존 컨트롤러는 일정 수의 슬롯들로 구성된 한 존의 시험을 담당한다. 대개, 존 컨트롤러는 번인 시험의 전반을 통제하는 한 워크스테이션 내에 내장되어 있으므로 이들의 추가는 물리적 공간의 제약을 받는다. 본 논문은 이런 문제들의 해결이나 완화를 위한 한 방법으로서 존의 슬롯 수를 동적으로 할당할 수 있는 동적 존 시스템을 제안한다. 이 시스템은 존의 슬롯 수를 가변시켜 빈 슬롯을 최소화함으로써 시스템의 운영 효율을 극대화한다. 또한 기존 시스템의 경우에는 정비를 위해 진행 중인 시험을 모두 중지시켜야 하지만, 동적 존 시스템의 경우에는 시스템에 전력을 공급하는 주 전원이 문제가 되지 않는다면 슬롯별로 개별적인 유지보수가 가능하다.

다국어 초록 (Multilingual Abstract)

Burn-in test is one for eliminating semiconductor devices that are subject to early failures and other operational problems; it is usually carried out on the devices by imposing severe test conditions such as elevated voltages, temperatures, and time. In order for such a test to be performed, each burn-in board having devices to be tested, needs to be inserted into a corresponding slot. A set of such slots is called a zone. The slots comprising a zone can only have the burn-in boards with the devices of the same type. In order to test many different types of semiconductor devices, it is desirable to build a burn-in test system to have as many zones as possible. A zone controller controlling a zone, is a device that performs a burn-in test and collects test results. In case of existing systems, each zone controller takes care of a zone that consists of a fixed number of slots. Since a zone controller is, in most cases, embedded into a workstation that controls the overall testing process, adding new zone controllers is restricted by the spaces for them. As a way to solve or alleviate these problems, a dynamic zone system in which the number of slots in a zone can be dynamically allocated, is presented. This system maximizes the efficiency of system utilization, by altering the number of slots and hence minimizing the idle slots of a zone. In addition, all the test operations being performed must be aborted for maintenance in existing systems. In dynamic zone systems, however, a separate and independent maintenance is allowed for each slot, as long as the main power supply system has no problem.

참고문헌 (Reference)

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