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      나노미터급 3차원 이미징을 위한 울트라마이크로톰 개발 (incorporated in HITACHI FE- SEM)

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      다국어 초록 (Multilingual Abstract)

      We develop an ultra-microtome(UT) inside the vacuum chamber for an FE-SEM(Field Emission Scanning Electron Microscope) for nanometer-level 3D imaging. By applying a leaf spring to the UT design, the limited space inside the vacuum chamber is effectively used, and the movement trajectory of the cutting knife is limited to one dimension so that the specimen can be cut flat in the direction perpendicular to the optical axis.
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      We develop an ultra-microtome(UT) inside the vacuum chamber for an FE-SEM(Field Emission Scanning Electron Microscope) for nanometer-level 3D imaging. By applying a leaf spring to the UT design, the limited space inside the vacuum chamber is effective...

      We develop an ultra-microtome(UT) inside the vacuum chamber for an FE-SEM(Field Emission Scanning Electron Microscope) for nanometer-level 3D imaging. By applying a leaf spring to the UT design, the limited space inside the vacuum chamber is effectively used, and the movement trajectory of the cutting knife is limited to one dimension so that the specimen can be cut flat in the direction perpendicular to the optical axis.

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