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- 2. 실험 및 측정방법
- 3. 실험결과 및 고찰
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- 저자
- 발행기관
- 학술지명
- 권호사항
-
발행연도
2012
-
작성언어
Korean
- 주제어
-
KDC
555
-
등재정보
SCOPUS,KCI등재
-
자료형태
학술저널
- 발행기관 URL
-
수록면
1285-1289(5쪽)
-
KCI 피인용횟수
3
- DOI식별코드
- 제공처
-
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부가정보
목차 (Table of Contents)
- 1. 서론
- 2. 실험 및 측정방법
- 3. 실험결과 및 고찰
- 4. 결론
- 후기
- 참고문헌
참고문헌 (Reference)
1 곽재섭, "단결정 사파이어 광학소자의 ELID 경면연삭 가공 특성" 한국정밀공학회 29 (29): 247-252, 2012
2 Dai, Y., "Subsurface Properties of Ceramics for Lightweight Mirrors after ELID Grinding" 47 (47): 66-71, 2004
3 김상진, "PCB드릴링용 공기 베어링 스핀들의 설계제작 및 성능평가에 관한 연구" 한국정밀공학회 23 (23): 29-36, 2006
4 Ohmori, H., "Mirror Surface Grinding of Silicon Wafer with Electrolytic Inprocess Dressing" 39 (39): 329-332, 1990
5 Kim, D., "Analysis of Stress Non-uniformity on Sapphire Wafer during Diamond Mechanical Polishing" 263-264, 2011
6 Ohmori, H., "Analysis of Mirror Surface Generation of Hard and Brittle Materials by ELID (Electrolytic In-Process Dressing) Grinding with Superfine Grain Metallic Bond Wheels" 44 (44): 287-290, 1995
1 곽재섭, "단결정 사파이어 광학소자의 ELID 경면연삭 가공 특성" 한국정밀공학회 29 (29): 247-252, 2012
2 Dai, Y., "Subsurface Properties of Ceramics for Lightweight Mirrors after ELID Grinding" 47 (47): 66-71, 2004
3 김상진, "PCB드릴링용 공기 베어링 스핀들의 설계제작 및 성능평가에 관한 연구" 한국정밀공학회 23 (23): 29-36, 2006
4 Ohmori, H., "Mirror Surface Grinding of Silicon Wafer with Electrolytic Inprocess Dressing" 39 (39): 329-332, 1990
5 Kim, D., "Analysis of Stress Non-uniformity on Sapphire Wafer during Diamond Mechanical Polishing" 263-264, 2011
6 Ohmori, H., "Analysis of Mirror Surface Generation of Hard and Brittle Materials by ELID (Electrolytic In-Process Dressing) Grinding with Superfine Grain Metallic Bond Wheels" 44 (44): 287-290, 1995
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분석정보
인용정보 인용지수 설명보기
학술지 이력
| 연월일 | 이력구분 | 이력상세 | 등재구분 |
|---|---|---|---|
| 2023 | 평가예정 | 해외DB학술지평가 신청대상 (해외등재 학술지 평가) | |
| 2020-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (해외등재 학술지 평가) |  |
| 2013-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | |
| 2010-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | |
| 2008-06-23 | 학회명변경 | 영문명 : Korean Society Of Precision Engineering -> Korean Society for Precision Engineering | |
| 2008-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | |
| 2006-07-07 | 학술지명변경 | 외국어명 : 미등록 -> Journal of the Korean Society for Precision Engineering | |
| 2006-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | |
| 2004-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | |
| 2001-01-01 | 평가 | 등재학술지 선정 (등재후보2차) | |
| 1998-07-01 | 평가 | 등재후보학술지 선정 (신규평가) |  |
학술지 인용정보
| 기준연도 | WOS-KCI 통합IF(2년) | KCIF(2년) | KCIF(3년) |
|---|---|---|---|
| 2016 | 0.26 | 0.26 | 0.26 |
| KCIF(4년) | KCIF(5년) | 중심성지수(3년) | 즉시성지수 |
| 0.24 | 0.22 | 0.449 | 0.12 |
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