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      KCI등재 SCI SCIE SCOPUS

      Patterning of Thin Copper Films under UV Exposure in Chlorine-Based Liquids

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      https://www.riss.kr/link?id=A104326947

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      다국어 초록 (Multilingual Abstract)

      Wet etching of thin copper films was achieved by using chlorine-based liquids, such as 1,2- dicholorethane or NaCl dissolved in water, under ultraviolet (UV) irradiation. The etching of the thin copper film was probed in-situ by using a spectroscopic ...

      Wet etching of thin copper films was achieved by using chlorine-based liquids, such as 1,2-
      dicholorethane or NaCl dissolved in water, under ultraviolet (UV) irradiation. The etching of
      the thin copper film was probed in-situ by using a spectroscopic ellipsometer, and the etch rate
      could be controlled by adjusting the exposure parameters. As UV is used in lithography, mask
      patterns can be transferred to a copper surface directly without resorting to a complex photoresist
      process. Easy control of the etch rate ranging from sub °A/s and use of nontoxic liquids such as
      1,2-dicholoroethane and NaCl solution are major advantages of this novel technique.

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      참고문헌 (Reference)

      1 "Semiconductor Devices, Phy. & Tech.2nd ed." Wiley 442-, 2001

      2 "Handbook of Optical Constants of Solids" Academic Press 284-, 1998

      1 "Semiconductor Devices, Phy. & Tech.2nd ed." Wiley 442-, 2001

      2 "Handbook of Optical Constants of Solids" Academic Press 284-, 1998

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      2011-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2009-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2007-01-01 평가 SCI 등재 (등재유지) KCI등재
      2005-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2002-07-01 평가 등재학술지 선정 (등재후보2차) KCI등재
      2000-01-01 평가 등재후보학술지 선정 (신규평가) KCI등재후보
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      학술지 인용정보

      학술지 인용정보
      기준연도 WOS-KCI 통합IF(2년) KCIF(2년) KCIF(3년)
      2016 0.47 0.15 0.31
      KCIF(4년) KCIF(5년) 중심성지수(3년) 즉시성지수
      0.26 0.2 0.26 0.03
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