본 논문에서는 파이프라인 구조를 갖는 부동소수점 DSP core를 효과적으로 테스트 할 수 있는 내장된 자체 테스트 회로를 구현하였다. 제안된 내장된 자체 테스트 회로는 테스트 패턴을 생성...
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1999
Korean
004
학술저널
12-14(3쪽)
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본 논문에서는 파이프라인 구조를 갖는 부동소수점 DSP core를 효과적으로 테스트 할 수 있는 내장된 자체 테스트 회로를 구현하였다. 제안된 내장된 자체 테스트 회로는 테스트 패턴을 생성...
본 논문에서는 파이프라인 구조를 갖는 부동소수점 DSP core를 효과적으로 테스트 할 수 있는 내장된 자체 테스트 회로를 구현하였다. 제안된 내장된 자체 테스트 회로는 테스트 패턴을 생성하는 회로의 초기 값을 재인가할 수 있도록 설계함으로써 무작위 테스트 패턴에 의해 쉽게 검출되지 않는 고장을 쉽게 검출할 수 있도록 하였다. 또한 면적 오버헤드를 최소화하기 위하여 테스트 패턴 생성 회로와 압축치 생성 회로를 추가하지 않고, 파이프라인 레지스터를 변경하여 구현하였다. 그리고, 고장 시뮬레이션을 통하여 고장 탐지율을 구할 수 있다.
목차 (Table of Contents)
주파수 가변 맨체스터 코드를 이용한 RFID 카드 개발
내장된 이중 - 포트 메모리의 효율적인 테스트 방법에 관한 연구
미디어 프로세서 성능향상을 위한 서브워드연산기 배치와 캐시구조에 대한 연구