RISS 학술연구정보서비스

검색
다국어 입력

http://chineseinput.net/에서 pinyin(병음)방식으로 중국어를 변환할 수 있습니다.

변환된 중국어를 복사하여 사용하시면 됩니다.

예시)
  • 中文 을 입력하시려면 zhongwen을 입력하시고 space를누르시면됩니다.
  • 北京 을 입력하시려면 beijing을 입력하시고 space를 누르시면 됩니다.
닫기
    인기검색어 순위 펼치기

    RISS 인기검색어

      KCI우수등재

      산업용 이미지의 구조적 차이를 식별하는 이상 탐지

      한글로보기

      https://www.riss.kr/link?id=A107995189

      • 0

        상세조회
      • 0

        다운로드
      서지정보 열기
      • 내보내기
      • 내책장담기
      • 공유하기
      • 오류접수

      부가정보

      국문 초록 (Abstract)

      제조 설비 기술의 발달로 산업현장에서 불량 데이터 확보가 점차 어려워 데이터 불균형을 야기한다. 머신비전 분야에서는 데이터 불균형 문제를 해결할 수 있는 Autoencoder, GAN 방식의 Unsupervis...

      제조 설비 기술의 발달로 산업현장에서 불량 데이터 확보가 점차 어려워 데이터 불균형을 야기한다. 머신비전 분야에서는 데이터 불균형 문제를 해결할 수 있는 Autoencoder, GAN 방식의 Unsupervised 이상 탐지 기술이 각광받고 있다. 하지만 Autoencoder, GAN 방식은 학습이 불안정하며, 일반적으로 단순 픽셀 차이를 계산하는 L1, L2 손실 함수를 사용하여 구조적 차이를 판단하기 어렵다. 따라서 동일 클래스에서 비정상 데이터를 탐지하는 Novelty Detection 이상 탐지 분야에 적합하지 않다. 본 연구에서는 복원력을 향상시킬 수 있는 U-Net 기반 복원 네트워크를 사용하고, 동일 클래스에서 Local Region의 구조적 차이를 확인할 수 있는 SSIM, MS-SSIM 손실 함수를 사용한 방법을 제시한다. 해당 방법은 실제 산업현장에서 발생하는 물체의 결함을 판단하는데 사용하는 제조 분야에 특화된 MVTec 데이터를 사용해서 실험을 진행하였고 Autoencoder, GAN 방식 네트워크에서 L1, SSIM, MS-SSIM 손실 함수를 사용하여 성능 비교 실험하였다.

      더보기

      다국어 초록 (Multilingual Abstract)

      Due to the development of manufacturing technology, it is increasingly difficult to gather data flaws in the manufacturing process, leading to imbalanced data. Therefore, Autoencoder and GAN-based unsupervised anomaly detections that solve the problem...

      Due to the development of manufacturing technology, it is increasingly difficult to gather data flaws in the manufacturing process, leading to imbalanced data. Therefore, Autoencoder and GAN-based unsupervised anomaly detections that solve the problem of imbalanced data are in the spotlight. However, the Autoencoder and GAN-based models are not only unstable during training, but also typically use L1 and L2 loss functions for a per-pixel error, making it harder to distinguish structural differences between input and reconstruction. Consequently, detecting anomalies in the same class is not suitable in novelty anomaly detection fields. In this work, we present a way to take advantage of SSIM, MS-SSIM loss functions on a U-Net network to identify structural differences between local regions in the same class and improve reconstruction stability while training. Utilizing MVTec dataset, which is specialized for manufacturing processes to detect defects, we compared the performances of L1, SSIM, MS-SSIM on Autoencoder, GAN-based networks.

      더보기

      목차 (Table of Contents)

      • 요약
      • Abstract
      • Ⅰ. 서론
      • Ⅱ. 관련 연구
      • Ⅲ. 본론
      • 요약
      • Abstract
      • Ⅰ. 서론
      • Ⅱ. 관련 연구
      • Ⅲ. 본론
      • Ⅳ. 실험
      • Ⅴ. 결론
      • REFERENCES
      더보기

      참고문헌 (Reference)

      1 Radford, Alec, "Unsupervised representation learning with deep convolutional generative adversarial networks"

      2 Schlegl, Thomas, "Unsupervised anomaly detection with generative adversarial networks to guide marker discovery" Springer 2017

      3 Ronneberger, Olaf, "U-net: Convolutional networks for biomedical image segmentation" Springer 2015

      4 Akçay, Samet, "Skip-ganomaly: Skip connected and adversarially trained encoder-decoder anomaly detection" IEEE 2019

      5 Hinton, Geoffrey E, "Reducing the dimensionality of data with neural networks" 313 (313): 504-507, 2006

      6 Bergmann, Paul, "MVTec AD--A comprehensive real-world dataset for unsupervised anomaly detection" 2019

      7 Bergmann, Paul, "MVTec AD--A comprehensive real-world dataset for unsupervised anomaly detection" 2019

      8 Zhao, Hang, "Loss functions for image restoration with neural networks" 3 (3): 47-57, 2016

      9 Liu, Peidong, "Loss Function Discovery for Object Detection via Convergence-Simulation Driven Search"

      10 Isola, Phillip, "Image-to-image translation with conditional adversarial networks" 2017

      1 Radford, Alec, "Unsupervised representation learning with deep convolutional generative adversarial networks"

      2 Schlegl, Thomas, "Unsupervised anomaly detection with generative adversarial networks to guide marker discovery" Springer 2017

      3 Ronneberger, Olaf, "U-net: Convolutional networks for biomedical image segmentation" Springer 2015

      4 Akçay, Samet, "Skip-ganomaly: Skip connected and adversarially trained encoder-decoder anomaly detection" IEEE 2019

      5 Hinton, Geoffrey E, "Reducing the dimensionality of data with neural networks" 313 (313): 504-507, 2006

      6 Bergmann, Paul, "MVTec AD--A comprehensive real-world dataset for unsupervised anomaly detection" 2019

      7 Bergmann, Paul, "MVTec AD--A comprehensive real-world dataset for unsupervised anomaly detection" 2019

      8 Zhao, Hang, "Loss functions for image restoration with neural networks" 3 (3): 47-57, 2016

      9 Liu, Peidong, "Loss Function Discovery for Object Detection via Convergence-Simulation Driven Search"

      10 Isola, Phillip, "Image-to-image translation with conditional adversarial networks" 2017

      11 Wang, Zhou, "Image quality assessment:from error visibility to structural similarity" 13 (13): 600-612, 2004

      12 Akcay, Samet, "Ganomaly: Semi-supervised anomaly detection via adversarial training" Springer 2018

      13 Chen, Po-Yu, "Distributed real-time anomaly detection in networked industrial sensing systems" 62 (62): 3832-3842, 2014

      14 Ruff, Lukas, "Deep semi-supervised anomaly detection"

      15 Fernando, Tharindu, "Deep Learning for Medical Anomaly Detection--A Survey"

      16 Kingma, Diederik P., "Auto-encoding variational bayes"

      17 Anandakrishnan, Archana, "Anomaly detection in finance: editors’ introduction" PMLR 2017

      더보기

      동일학술지(권/호) 다른 논문

      동일학술지 더보기

      더보기

      분석정보

      View

      상세정보조회

      0

      Usage

      원문다운로드

      0

      대출신청

      0

      복사신청

      0

      EDDS신청

      0

      동일 주제 내 활용도 TOP

      더보기

      주제

      연도별 연구동향

      연도별 활용동향

      연관논문

      연구자 네트워크맵

      공동연구자 (7)

      유사연구자 (20) 활용도상위20명

      인용정보 인용지수 설명보기

      학술지 이력

      학술지 이력
      연월일 이력구분 이력상세 등재구분
      2023 평가예정 계속평가 신청대상 (등재유지)
      2018-01-01 평가 우수등재학술지 선정 (계속평가)
      2015-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2014-12-11 학술지명변경 외국어명 : journal of The Institute of Electronics Engineers of Korea -> Journal of the Institute of Electronics and Information Engineers KCI등재
      2014-01-21 학회명변경 영문명 : The Institute Of Electronics Engineers Of Korea -> The Institute of Electronics and Information Engineers KCI등재
      2011-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2009-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2007-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2005-10-17 학술지명변경 한글명 : 대한전자공학회 논문지 -> 전자공학회논문지 KCI등재
      2005-05-27 학술지등록 한글명 : 대한전자공학회 논문지
      외국어명 : journal of The Institute of Electronics Engineers of Korea
      KCI등재
      2005-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2002-07-01 평가 등재학술지 선정 (등재후보2차) KCI등재
      2000-01-01 평가 등재후보학술지 선정 (신규평가) KCI등재후보
      더보기

      학술지 인용정보

      학술지 인용정보
      기준연도 WOS-KCI 통합IF(2년) KCIF(2년) KCIF(3년)
      2016 0.27 0.27 0.25
      KCIF(4년) KCIF(5년) 중심성지수(3년) 즉시성지수
      0.22 0.19 0.427 0.09
      더보기

      이 자료와 함께 이용한 RISS 자료

      나만을 위한 추천자료

      해외이동버튼