본 논문에서는 IEEE 1149.1 표준안을 만족하면서 내장된 자체 테스트를 지원할 수 있는 경계 주사 회로를 설계 구현하였다. 구현된 회로는 내장된 자체 테스트 지원을 위해 표준안에서 지정하...
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1999
Korean
004
학술저널
6-8(3쪽)
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본 논문에서는 IEEE 1149.1 표준안을 만족하면서 내장된 자체 테스트를 지원할 수 있는 경계 주사 회로를 설계 구현하였다. 구현된 회로는 내장된 자체 테스트 지원을 위해 표준안에서 지정하...
본 논문에서는 IEEE 1149.1 표준안을 만족하면서 내장된 자체 테스트를 지원할 수 있는 경계 주사 회로를 설계 구현하였다. 구현된 회로는 내장된 자체 테스트 지원을 위해 표준안에서 지정하고 있는 명령어 외에 내장된 자체 테스트를 위한 명령어를 추가하였으며 테스트 모드에서 내장된 자체 테스트 회로를 위한 클럭 제어기 및 리셋 신호 제어기를 추가하였다. 구현된 회로는 Verilog HDL을 사용하여 설계하였고 Synopsys에서 삼성 SOG 75000 라이브러리로 합성하였으며, Cadence사의 VerilogXL 시뮬레이터를 이용하여 동작 검증을 수행하였다. 본 논문에서 구현된 회로는 부동소수점 DSP 코어에 실제 적용하여 경계 주사 회로의 동작과 내장된 자체 테스트 회로의 동작 제어를 확인하였다.
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