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ア ァ カ サ ザ タ ダ ナ ハ バ パ マ ヤ ャ ラ ワ ヮ ン イ ィ キ ギ シ ジ チ ヂ ニ ヒ ビ ピ ミ リ ウ ゥ ク グ ス ズ ツ ヅ ッ ヌ フ ブ プ ム ユ ュ ル エ ェ ケ ゲ セ ゼ テ デ ヘ ベ ペ メ レ オ ォ コ ゴ ソ ゾ ト ド ノ ホ ボ ポ モ ヨ ョ ロ ヲ ―

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ㅥ ㅦ ㅧ ㅨ ㅩ ㅪ ㅫ ㅬ ㅭ ㅮ ㅯ ㅰ ㅱ ㅲ ㅳ ㅴ ㅵ ㅶ ㅷ ㅸ ㅹ ㅺ ㅻ ㅼ ㅽ ㅾ ㅿ ㆀ ㆁ ㆂ ㆃ ㆄ ㆅ ㆆ ㆇ ㆈ ㆉ ㆊ ㆋ ㆌ ㆍ ㆎ
Α Β Γ Δ Ε Ζ Η Θ Ι Κ Λ Μ Ν Ξ Ο Π Ρ Σ Τ Υ Φ Χ Ψ Ω α β γ δ ε ζ η θ ι κ λ μ ν ξ ο π ρ σ τ υ φ χ ψ ω
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§ ※ ☆ ★ ○ ● ◎ ◇ ◆ □ ■ △ ▽ → ← ↑ ↓ ↔ 〓 ◁ ◀ ▷ ▶ ♤ ♠ ♡ ♥ ♧ ♣ ⊙ ◈ ▣ ◐ ◑ ▒ ▤ ▥ ▨ ▧ ▦ ▩ ♨ ☏ ☎ ☜ ☞ † ‡ ↕ ↗ ↙ ↖ ↘ ♭ ♩ ♪ ♬ ㉿ ㈜ № ㏇ ™ ㏂ ㏘ ℡ ＃ ＆ ＊ ＠ ª º
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      교환 결합 상태가 다른 [Ni80Fe20 / Cu / Co / Cu] 다층 박막에서 Co 계면 삽입이 자기적 특성에 미치는 영향

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      The [Ni_(80)Fe(20)/Cu/Co/Cu] multilayers were grown by evaporation technique, and according to magnetic exchange coupling relation, magnetoresistance ratio and magnetization curve were studied by Co inserting Ni_(80)Fe_(20)/Cu interface. Insertion of Co layer to the antiferromagnetically coupled system, i. e t_(Cu) =25 Å, decrease the MR ratio contrary to previous reports. However the insertion to the ferromagnetically coupled (t_(Cu) = 27 Å) and the non-coupled (t_(Cu)=47 Å) systems increase the ratio to 3.5 % and 6 % respectively. The results imply that the insertion change the magnetic exchange coupling state as well as the spin dependent scattering of conduction electrons. Besides, insertion of Co layer between Cu and Ni_(80)Fe_(20) layer enhances thermal stability to the 300℃, which indicates that insertion of Co has a role of the effective diffusion barrier.
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      The [Ni_(80)Fe(20)/Cu/Co/Cu] multilayers were grown by evaporation technique, and according to magnetic exchange coupling relation, magnetoresistance ratio and magnetization curve were studied by Co inserting Ni_(80)Fe_(20)/Cu interface. Insertion of ...

      The [Ni_(80)Fe(20)/Cu/Co/Cu] multilayers were grown by evaporation technique, and according to magnetic exchange coupling relation, magnetoresistance ratio and magnetization curve were studied by Co inserting Ni_(80)Fe_(20)/Cu interface. Insertion of Co layer to the antiferromagnetically coupled system, i. e t_(Cu) =25 Å, decrease the MR ratio contrary to previous reports. However the insertion to the ferromagnetically coupled (t_(Cu) = 27 Å) and the non-coupled (t_(Cu)=47 Å) systems increase the ratio to 3.5 % and 6 % respectively. The results imply that the insertion change the magnetic exchange coupling state as well as the spin dependent scattering of conduction electrons. Besides, insertion of Co layer between Cu and Ni_(80)Fe_(20) layer enhances thermal stability to the 300℃, which indicates that insertion of Co has a role of the effective diffusion barrier.

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