RISS 학술연구정보서비스

검색

인기 검색어

    다국어 입력

    http://chineseinput.net/에서 pinyin(병음)방식으로 중국어를 변환할 수 있습니다.

    변환된 중국어를 복사하여 사용하시면 됩니다.

    예시)
    • 中文 을 입력하시려면 zhongwen을 입력하시고 space를누르시면됩니다.
    • 北京 을 입력하시려면 beijing을 입력하시고 space를 누르시면 됩니다.
    닫기
    KCI등재

    특허청구범위 해석에 있어서 일원론과 이원론에 대한 타당성 검토

    한글로보기

    https://www.riss.kr/link?id=A101888426

    • 0

      상세조회
    • 0

      다운로드
    서지정보 열기
    • 내보내기
    • 내책장담기
    • 공유하기
    • 오류접수

    부가정보

    다국어 초록 (Multilingual Abstract) kakao i 다국어 번역

    There are two standards for claim construction: (a) claims must be read in view of the specification; and (b) It is improper to read a limitation from the specification into the claims. These two standards generally apply in the same way for both judging the requirements for patentability and for judging patent infringement. However, in some cases when the claim language is broader than the embodiment, these two standards are applied differently for judging the requirements for patentability and judging patent infringement. During judging the requirements for patentability, the Patent Office must give claims their broadest reasonable interpretation in light of the specification and it is improper to import claim limitations from the specification. Because the applicant has the opportunity to amend the claims during prosecution, giving a claim its broadest reasonable interpretation will reduce the possibility that the claim, once issued, will be interpreted more broadly than is justified. But during judging a patent infringement, it is proper to import claim limitations from the specification. This is because it is against the principle of the patent system to give a right to the invention that was not disclosed in the specification by the patent owner. Therefore, in some cases, claims may be construed in the same way for judging the requirements for patentability and for judging patent infringement. In some other cases, claims may not be construed in the same.
    번역하기

    There are two standards for claim construction: (a) claims must be read in view of the specification; and (b) It is improper to read a limitation from the specification into the claims. These two standards generally apply in the same way for both judg...

    There are two standards for claim construction: (a) claims must be read in view of the specification; and (b) It is improper to read a limitation from the specification into the claims. These two standards generally apply in the same way for both judging the requirements for patentability and for judging patent infringement. However, in some cases when the claim language is broader than the embodiment, these two standards are applied differently for judging the requirements for patentability and judging patent infringement. During judging the requirements for patentability, the Patent Office must give claims their broadest reasonable interpretation in light of the specification and it is improper to import claim limitations from the specification. Because the applicant has the opportunity to amend the claims during prosecution, giving a claim its broadest reasonable interpretation will reduce the possibility that the claim, once issued, will be interpreted more broadly than is justified. But during judging a patent infringement, it is proper to import claim limitations from the specification. This is because it is against the principle of the patent system to give a right to the invention that was not disclosed in the specification by the patent owner. Therefore, in some cases, claims may be construed in the same way for judging the requirements for patentability and for judging patent infringement. In some other cases, claims may not be construed in the same.

    더보기

    목차 (Table of Contents)

    • I. 서론
    • II. 특허침해 판단시와 특허요건 판단시 특허청구범위 해석원칙
    • 1. 특허침해 판단시 특허청구범위 해석원칙
    • 2. 특허침해 판단시 특허청구범위 해석원칙의 특허요건 판단시 적용
    • III. 특허청구범위 해석에 있어서 일원론과 이원론에 대한 검토
    • I. 서론
    • II. 특허침해 판단시와 특허요건 판단시 특허청구범위 해석원칙
    • 1. 특허침해 판단시 특허청구범위 해석원칙
    • 2. 특허침해 판단시 특허청구범위 해석원칙의 특허요건 판단시 적용
    • III. 특허청구범위 해석에 있어서 일원론과 이원론에 대한 검토
    • 1. 일원론과 이원론
    • 2. 일원적으로 해석되는 경우
    • 3. 이원적으로 해석되는 경우
    • 4. 특허무효사건과 특허침해금지소송이 동시에 진행되는 경우
    • IV. 결론
    • 참고문헌
    더보기

    참고문헌 (Reference)

    1 윤태식, "판례중심 특허법" 진원사 2013

    2 강경태, "특허청구범위해석론의 재검토" 특허법원 4 : 2008

    3 박길채, "특허청구범위의 해석에 관한 소고" (92) : 2005

    4 박성수, "특허청구범위의 해석에 관한 소고" 법원행정처 39 : 2004

    5 이수완, "특허청구범위의 해석" 특허법원 2 : 2002

    6 김상은, "특허청구범위 해석의 이중적 기준-특허성 및 권리범위판단에 있어 특허청구범위 해석기준의 차이" 박영사 2012

    7 이종우, "특허청구범위 해석에 있어서 기능식 청구항의 취급" 특허법원 5 : 2011

    8 牧野利秋, "특허청구범위 해석에 대하여" 특허법원 1 : 1999

    9 성기문, "특허소송에서의 심사경과금반언에 관한 고찰" 법원도서관 43 : 2006

    10 정상조, "특허법주해Ⅰ." 박영사 2010

    1 윤태식, "판례중심 특허법" 진원사 2013

    2 강경태, "특허청구범위해석론의 재검토" 특허법원 4 : 2008

    3 박길채, "특허청구범위의 해석에 관한 소고" (92) : 2005

    4 박성수, "특허청구범위의 해석에 관한 소고" 법원행정처 39 : 2004

    5 이수완, "특허청구범위의 해석" 특허법원 2 : 2002

    6 김상은, "특허청구범위 해석의 이중적 기준-특허성 및 권리범위판단에 있어 특허청구범위 해석기준의 차이" 박영사 2012

    7 이종우, "특허청구범위 해석에 있어서 기능식 청구항의 취급" 특허법원 5 : 2011

    8 牧野利秋, "특허청구범위 해석에 대하여" 특허법원 1 : 1999

    9 성기문, "특허소송에서의 심사경과금반언에 관한 고찰" 법원도서관 43 : 2006

    10 정상조, "특허법주해Ⅰ." 박영사 2010

    11 조영선, "특허법제4판" 박영사 2013

    12 이수완, "특허법의 제문제(상)" 한빛지적소유권센터 1993

    13 장완호, "특허법원 개원 10주년 기념논문집" 특허법원 2008

    14 특허법원지적재산소송실무연구회, "지적재산소송실무" 박영사 2010

    15 한규현, "발명의 요지와 보호범위 판단방법" 특허법원 1 : 2008

    16 신경섭, "미국특허침해소송론" 시그마프레스 2012

    17 이창훈, "미국특허청구범위 작성과 해석" 한빛지적소유권센터 2005

    18 전준형, "미국특허법" 세창출판사 2011

    19 정차호, "기능식 청구항-미국과 한국의 적용-" 특허청 (59) : 2000

    20 성기문, "공지부분이 포함된 특허 및 의장을 둘러싼 실무상의 제문제"

    21 中山信弘, "註解 特許法(上卷)" 靑林書院 2011

    22 吉藤幸朔, "特許法槪說(12판)" 대광서림 1999

    23 Donald S. Chisum, "Principles of Patent Law Cases and Materials Third Edition" Foundation Press 2004

    24 Kimberly A. Moore, "PATENT LITIGATION AND STRATEGY Third Edition" Thomson West 2008

    25 Donald S. Chisum, "ELEMENTS OF UNITED STATES PATENT LAW" YUSHODO PRESS CO., LTD 2000

    더보기

    분석정보

    View

    상세정보조회

    0

    Usage

    원문다운로드

    0

    대출신청

    0

    복사신청

    0

    EDDS신청

    0

    동일 주제 내 활용도 TOP

    더보기

    주제

    연도별 연구동향

    연도별 활용동향

    연관논문

    연구자 네트워크맵

    공동연구자 (7)

    유사연구자 (20) 활용도상위20명

    인용정보 인용지수 설명보기

    학술지 이력

    학술지 이력
    연월일 이력구분 이력상세 등재구분
    2027 평가 재인증평가 신청대상 (재인증)
    2021-01-01 등재 등재학술지 유지 (재인증) KCI등재
    2018-01-01 등재 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
    2015-01-01 등재 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
    2014-08-27 학회명변경 한글명 : 한국산업재산권법학회 -> 한국지식재산학회
    영문명 : Korea Industrial Property Law Association -> Korea Intellectual Property Society
    KCI등재
    2011-01-01 등재 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
    2010-03-11 학회명변경 한글명 : 한국산업재산권법학회a -> 한국산업재산권법학회 KCI등재
    2009-01-01 등재 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
    2007-01-01 등재 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
    2006-07-31 학술지등록 한글명 : 산업재산권
    외국어명 : Journal of Industrial Property
    KCI등재
    2004-01-01 등재 등재학술지 선정 (등재후보2차) KCI등재
    2003-01-01 등재 등재후보 1차 PASS (등재후보1차) KCI등재후보
    2001-07-01 등재 등재후보학술지 선정 (신규평가) KCI등재후보
    더보기

    학술지 인용정보

    학술지 인용정보
    기준연도 WOS-KCI 통합IF(2년) KCIF(2년) KCIF(3년)
    2016 0.81 0.81 0.71
    KCIF(4년) KCIF(5년) 중심성지수(3년) 즉시성지수
    0.7 0.69 0.759 0.12
    더보기

    이 자료와 함께 이용한 RISS 자료

    나만을 위한 추천자료

    해외이동버튼