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There are many different types of surface defects on semiconductor Integrated Chips (IC’s) caused by various factors during manufacturing process, such as Scratch, Flash, Resin bleed, and Melting. These defects must be detected and classified by an inspection system for productivity improvement and effective process control. Among defects, in particular, Resin bleed and Melting are the most difficult ones to classify accurately. The brightness value and the shape of Resin bleed and Melting defects are so similar that normally it is difficult to classify the Resin bleed and Melting. In this paper, we propose a segmenting method and a set of features for detecting and classifying the Resin bleed and Melting defects.

목차 (Table of Contents)

Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. Lead frame 검사 ROI(LF-ROI) 설정 방법
Ⅲ. Defects segmentation
Ⅳ. 결함 분류를 위한 Features 선택 및 추출

Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. Lead frame 검사 ROI(LF-ROI) 설정 방법
Ⅲ. Defects segmentation
Ⅳ. 결함 분류를 위한 Features 선택 및 추출
Ⅴ. 결론
참고문헌

참고문헌 (Reference)

1 T. C. Lionge, "Impact of Quad flat no lead frame package on automated X-ray inspection" 1-10, 2007

2 R. W. Farebrother, "Fitting Linear Relationships: A History of the Calculus of Observations 1750-1900" Springer 50-60, 1999

3 R. C. Gonzalez, "Digital Image Processing, 3nd Ed" Prentice Hall 749-752, 2001

4 N. Otsu, "A threshold selection method form gray-level histogram" 9 (9): 62-66, 1979

5 P.-S. Liao, "A fast algorithm for multilevel thresholding" 17 : 713-727, 2001

6 J. F. Canny, "A computational approach to edge detection" PAMI-8 (PAMI-8): 679-698, 1986

1 T. C. Lionge, "Impact of Quad flat no lead frame package on automated X-ray inspection" 1-10, 2007

2 R. W. Farebrother, "Fitting Linear Relationships: A History of the Calculus of Observations 1750-1900" Springer 50-60, 1999

3 R. C. Gonzalez, "Digital Image Processing, 3nd Ed" Prentice Hall 749-752, 2001

4 N. Otsu, "A threshold selection method form gray-level histogram" 9 (9): 62-66, 1979

5 P.-S. Liao, "A fast algorithm for multilevel thresholding" 17 : 713-727, 2001

6 J. F. Canny, "A computational approach to edge detection" PAMI-8 (PAMI-8): 679-698, 1986

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