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      비틀림 변형 중 ITO 필름의 시편 형태에 따른 기계적 전기적 파괴 연구 = Mechanical and Electrical Failure of ITO Film with Different Shape during Twisting Deformation

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      https://www.riss.kr/link?id=A104606843

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      다국어 초록 (Multilingual Abstract) kakao i 다국어 번역

      The most representative transparent electrode in the modern society is ITO (Indium Tin Oxide). ITO is widely used in general for touch panels and displays due to its high electrical and optical properties. However, in general, mechanical deformation causes deterioration and destruction of device properties because ITO is basically vulnerable to mechanical deformation. Therefore, the in-depth understanding on the stability of ITO film during various mechanical deformations is necessary. In this study, the reliability and mechanical properties ITO sample having different length, width, and area were investigated. The electrical stability was estimated according to electrical resistance change. The stability was dropped as the sample length, and width increased and the sample area decreased. The electrical stability of ITO film was correlated with twisting strain including tensile, compressive and shear stress.
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      The most representative transparent electrode in the modern society is ITO (Indium Tin Oxide). ITO is widely used in general for touch panels and displays due to its high electrical and optical properties. However, in general, mechanical deformation c...

      The most representative transparent electrode in the modern society is ITO (Indium Tin Oxide). ITO is widely used in general for touch panels and displays due to its high electrical and optical properties. However, in general, mechanical deformation causes deterioration and destruction of device properties because ITO is basically vulnerable to mechanical deformation. Therefore, the in-depth understanding on the stability of ITO film during various mechanical deformations is necessary. In this study, the reliability and mechanical properties ITO sample having different length, width, and area were investigated. The electrical stability was estimated according to electrical resistance change. The stability was dropped as the sample length, and width increased and the sample area decreased. The electrical stability of ITO film was correlated with twisting strain including tensile, compressive and shear stress.

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      국문 초록 (Abstract) kakao i 다국어 번역

      현재 전자 기기에서 가장 대표적인 투명전극은 ITO(Indium Tin Oxide) 필름으로, 우수한 전기적 물성과 광학적 성질로 인해 터치패널, 발광 소자 등 다양한 곳에 사용 중이다. 하지만, 세라믹 재료가 가지는 취성으로 인해, 유연 전자 소자와 같은 곳에 적용할 경우 기계적 변형 중 취성 파괴가 일어나기 쉬우므로 각별한 주의가 필요하다. 본 연구에서는 PET 위에 증착한 ITO 필름에 비틀림 변형이 가해졌을 경우 나타나는 기계적 파괴 및 이에 따라 발생하는 전기적 물성 변화에 대해 연구하였다. 다양한 형태의 시편을 준비하여 비틀림 변형 시 ITO 필름의 전기적 안정성에 대해 연구하였고, 시편의 길이가 길수록 폭이 클수록 면적이 작을수록 비틀림 변형에 취약한 것으로 나타났다. 이를 비틀림 변형 시 발생하는 복합 응력을 고려하여 ITO 필름의 비틀림 안정성에 대해 연구하였다.
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      현재 전자 기기에서 가장 대표적인 투명전극은 ITO(Indium Tin Oxide) 필름으로, 우수한 전기적 물성과 광학적 성질로 인해 터치패널, 발광 소자 등 다양한 곳에 사용 중이다. 하지만, 세라믹 재료...

      현재 전자 기기에서 가장 대표적인 투명전극은 ITO(Indium Tin Oxide) 필름으로, 우수한 전기적 물성과 광학적 성질로 인해 터치패널, 발광 소자 등 다양한 곳에 사용 중이다. 하지만, 세라믹 재료가 가지는 취성으로 인해, 유연 전자 소자와 같은 곳에 적용할 경우 기계적 변형 중 취성 파괴가 일어나기 쉬우므로 각별한 주의가 필요하다. 본 연구에서는 PET 위에 증착한 ITO 필름에 비틀림 변형이 가해졌을 경우 나타나는 기계적 파괴 및 이에 따라 발생하는 전기적 물성 변화에 대해 연구하였다. 다양한 형태의 시편을 준비하여 비틀림 변형 시 ITO 필름의 전기적 안정성에 대해 연구하였고, 시편의 길이가 길수록 폭이 클수록 면적이 작을수록 비틀림 변형에 취약한 것으로 나타났다. 이를 비틀림 변형 시 발생하는 복합 응력을 고려하여 ITO 필름의 비틀림 안정성에 대해 연구하였다.

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      참고문헌 (Reference)

      1 이재익, "플렉서블 디스플레이 R&D기술 디자인 융합연구" 한국전시산업융합연구원 18 : 519-529, 2014

      2 최정열, "웨어러블 패키징용 Polydimethylsiloxane (PDMS) 신축성 기판의 강성도 변화거동" 한국마이크로전자및패키징학회 21 (21): 125-131, 2014

      3 배상진, "모바일 디스플레이산업 분석" 한국기술혁신학회 5 (5): 396-411, 2002

      4 최정열, "SnBi 저온솔더의 플립칩 본딩을 이용한 스마트 의류용 칩 접속공정" 한국마이크로전자및패키징학회 19 (19): 71-76, 2012

      5 C. Y. Lim, "Mechanical and Electrical Stability IndiumTin-Oxide Coated Polymer Substrates under Continuous Bending Stress Condition" 2 (2): 237-, 2012

      6 T. C. Li, "Fatigue life study of ITO/PET specimens in cyclic bending tests" 26 (26): 250-, 2015

      7 T. C. Li, "Fatigue Life Study of ITO/PET Specimens in Terms of Electrical Resistance and Stress/Strain Via Cyclic Bending Tests" 9 (9): 577-, 2013

      8 S. H. Choa, "Experimental Study for Improving Mechanical Reliability of Flexible ITO Films" 3205 : 2011

      9 J. K. Yang, "Effect of twisting fatigue on the electrical reliability of a metal interconnect on a flexible substrate" 2017 : 422-, 2017

      10 K. Alzoubi, "Bending Fatigue Study of Sputtered ITO on Flexible Substrate" 7 (7): 593-, 2011

      1 이재익, "플렉서블 디스플레이 R&D기술 디자인 융합연구" 한국전시산업융합연구원 18 : 519-529, 2014

      2 최정열, "웨어러블 패키징용 Polydimethylsiloxane (PDMS) 신축성 기판의 강성도 변화거동" 한국마이크로전자및패키징학회 21 (21): 125-131, 2014

      3 배상진, "모바일 디스플레이산업 분석" 한국기술혁신학회 5 (5): 396-411, 2002

      4 최정열, "SnBi 저온솔더의 플립칩 본딩을 이용한 스마트 의류용 칩 접속공정" 한국마이크로전자및패키징학회 19 (19): 71-76, 2012

      5 C. Y. Lim, "Mechanical and Electrical Stability IndiumTin-Oxide Coated Polymer Substrates under Continuous Bending Stress Condition" 2 (2): 237-, 2012

      6 T. C. Li, "Fatigue life study of ITO/PET specimens in cyclic bending tests" 26 (26): 250-, 2015

      7 T. C. Li, "Fatigue Life Study of ITO/PET Specimens in Terms of Electrical Resistance and Stress/Strain Via Cyclic Bending Tests" 9 (9): 577-, 2013

      8 S. H. Choa, "Experimental Study for Improving Mechanical Reliability of Flexible ITO Films" 3205 : 2011

      9 J. K. Yang, "Effect of twisting fatigue on the electrical reliability of a metal interconnect on a flexible substrate" 2017 : 422-, 2017

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      2018-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2015-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2011-06-28 학술지명변경 한글명 : 마이크전자 및 패키징학회지 -> 마이크로전자 및 패키징학회지
      외국어명 : The Microelectronics and Packaging Society -> Jornal of the Microelectronics and Packaging Society
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      2011-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2009-01-01 평가 등재 1차 FAIL (등재유지) KCI등재
      2007-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2004-01-01 평가 등재학술지 선정 (등재후보2차) KCI등재
      2003-01-01 평가 등재후보 1차 PASS (등재후보1차) KCI등재후보
      2001-07-01 평가 등재후보학술지 선정 (신규평가) KCI등재후보
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      학술지 인용정보

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      기준연도 WOS-KCI 통합IF(2년) KCIF(2년) KCIF(3년)
      2016 0.48 0.48 0.43
      KCIF(4년) KCIF(5년) 중심성지수(3년) 즉시성지수
      0.39 0.35 0.299 0.35
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