Atomic force microscopy in process engineering : introduction to AFM for improved processes and products|RISS 상세보기

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ⅰ ⅱ ⅲ ⅳ ⅴ ⅵ ⅶ ⅷ ⅸ ⅹ Ⅰ Ⅱ Ⅲ Ⅳ Ⅴ Ⅵ Ⅶ Ⅷ Ⅸ Ⅹ

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Atomic force microscopy in process engineering : introduction to AFM for improved processes and products

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https://www.riss.kr/link?id=M11833909

저자

Bowen, W. Richard ; Hilal, Nidal
발행사항
Oxford ; Burlington, MA : Butterworth-Heinemann, 2009
발행연도
2009
작성언어
영어
주제어

Atomic force microscopy ; Production engineering
KDC
570 판사항(5)
ISBN
9781856175173
1856175170
자료형태
단행본(다권본)
발행국(도시)
England
서명/저자사항
Atomic force microscopy in process engineering : introduction to AFM for improved processes and products / [Edited by] W. Richard Bowen and Nidal Hilal.
형태사항
xvi, 283 p. : ill.. ; 23 cm.
총서사항
Butterworth-Heinemann/IChemE series Butterworth-Heinemann/IChemE series.
일반주기명
Academic
Includes bibliographical references and index.
BASIC PRINCIPLES OF ATOMIC FORCE MICROSCOPY / W Richard Bowen, Nidal Hilal and Daniel Johnson -- CHARACTERISATION OF MEMBRANE SURFACES / W Richard Bowen, Nidal Hilal and Teodora Doneva -- AFM AND DEVELOPMENT OF (BIO)FOULING RESISTANT MEMBRANES / W Richard Bowen, Nidal Hilal, Huabing Yin and Laila Al-Khatib -- APPLICATION OF ATOMIC FORCE MICROSCOPY TO PARTICLE-PARTICLE INTERACTIONS / Nidal Hilal, Yuncheng Liang and Daniel Johnson -- QUANTIFICATION OF PARTICLE-BUBBLE INTERACTIONS / Nidal Hilal and Daniel Johnson -- NANOSCALE ANALYSIS OF PHARMACEUTICALS BY SCANNING PROBE MICROSCOPY / Clive J Roberts -- THE APPLICATION OF AFM WITHIN BIOPROCESS ENGINEERING / Chris J Wright -- THE APPLICATION OF AFM TO THE DEVELOPMENT OF PROCESS PLANT MATERIALS / Chris J Wright -- ATOMIC FORCE MICROSCOPY AND POLYMERS ON SURFACES / Vasileios Koutsos -- AFM-BASED MICRO/NANO-RHEOMETRY / Matthew S Barrow and P Rhodri Williams -- CONCLUSIONS AND FUTURE OUTLOOK / W Richard Bowen and Nidal Hilal.
소장기관
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