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      Building a Notification based Test-bed for Second Battery Pin Testing

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      https://www.riss.kr/link?id=A104832600

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      다국어 초록 (Multilingual Abstract)

      To build a smart factory, a data centric test-bed can significantly increase higher quality of products. In this paper we describe a data collection of a notification model in a test-bed of secondary batty pin testing. To design the system, we analyze the requirements of pub/sub model based data collection mechanism in the prospect of the components of the information systems. We define CDM(Common Device Model) that provides a general object model that represents an external view of an IoT device. It is used to handle the sensory data and control data when designing and operating the test-bed. The test-bed can use the response to validate sensing data and sensor status.
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      To build a smart factory, a data centric test-bed can significantly increase higher quality of products. In this paper we describe a data collection of a notification model in a test-bed of secondary batty pin testing. To design the system, we analyze...

      To build a smart factory, a data centric test-bed can significantly increase higher quality of products. In this paper we describe a data collection of a notification model in a test-bed of secondary batty pin testing. To design the system, we analyze the requirements of pub/sub model based data collection mechanism in the prospect of the components of the information systems. We define CDM(Common Device Model) that provides a general object model that represents an external view of an IoT device. It is used to handle the sensory data and control data when designing and operating the test-bed. The test-bed can use the response to validate sensing data and sensor status.

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      참고문헌 (Reference)

      1 이상호, "코로나 기반 무선 센서 네트워크를 위한 데이터 제한 기법" 보안공학연구지원센터 11 (11): 339-354, 2014

      2 박시용, "센서 네트워크의 수명 연장을 위한 혼잡회피 정책" 보안공학연구지원센터 12 (12): 169-180, 2015

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      8 Vanessa Tan, "IoT-Enabled Health Promotion" ACM 17-18, 2016

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      10 May, G.S, "Fundamentals of Semiconductor Manufacturing and Process Control" John Wiley & Sons 2006

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      12 Chenxi, H, "A Study of Publish/Subscribe Systems for Real-Time Grid Monitoring" 2007

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