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A CRITICAL INVESTIGATION OF XPS PREDICTED PROTON AFFINITIES
D. Nordfors; N. Martensson; H. Agren Elsevier Scientific Pub. Co 1991 p.167-187
NEWDTP 2.2 - A VERSATILE SYSTEM FOR ROUTINE XPS DATA ACQUISITION AND ANALYSIS
E. Desimoni; U. B. Ceipidor Elsevier Scientific Pub. Co 1991 p.189-201
IODINE INCORPORATION INTO POLYMERIC FILMS INVESTIGATED BY ANGLE-RESOLVED XPS
O. A. Baschenko; M. A. Tyzykhov; V. I. Nefedov Elsevier Scientific Pub. Co 1991 p.203-209
PHOTOELECTRON ATTENUATION LENGTHS AND THERMAL BROADENING IN GAAS(110)
M. C. Schabel; I. M. Vitomirov; G. D. Waddill; J. H. Weaver Elsevier Scientific Pub. Co 1991 p.211-216
X-RAY PHOTOELECTRON-SPECTROSCOPY STUDY OF SR AND BA COMPOUNDS
R. P. Vasquez Elsevier Scientific Pub. Co 1991 p.217-240
M. Y. Adam; A. N. Debrito; M. P. Keane; S. Svensson; L. Karlsson; E. Kallne; N. Correia Elsevier Scientific Pub. Co 1991 p.241-257
METHANOL - A CRITICAL TEST OF INTENSITY MODELS FOR MOLECULAR SOFT-X-RAY EMISSION
H. Agren; A. Floresriveros Elsevier Scientific Pub. Co 1991 p.259-271
XPS CORE LEVEL SPECTRA AND AUGER PARAMETERS FOR SOME SILVER COMPOUNDS
V. K. Kaushik Elsevier Scientific Pub. Co 1991 p.273-277
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