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NEXAFS microscopy studies of the association of hydrocarbon thin films with fine clay particles
Covelli, D.; Hernandez-Cruz, D.; Haines, B. M.; Munoz, V.; Omotoso, O.; Mikula, R.; Urquhart, S. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2009 p.1-6
X-ray photoelectron spectroscopy study and thermoelectric properties of Al-doped ZnO thin films
Li, L.; Fang, L.; Zhou, X. J.; Liu, Z. Y.; Zhao, L.; Jiang, S. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2009 p.7-11
Damping of the surface plasmon in clean and K-modified Ag thin films
Politano, A.; Formoso, V.; Chiarello, G. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2009 p.12-17
Photoelectron spectra of F3SiC2H4Si(CH3)3 molecule using monochromatized synchrotron radiation
Suzuki, I. H.; Nitta, A.; Shimizu, A.; Tamenori, Y.; Fukuzawa, H.; Ueda, K.; Nagaoka, S. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2009 p.18-23
Synchrotron radiation VUV double photoionization of CHF2Cl
Zhao, Y.; Sun, Y.; Sun, J.; Fang, W.; Shan, X.; Liu, F.; Sheng, L.; Wang, Z. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2009 p.24-28
Kunz, C.; Cowie, B. C.; Drube, W.; Lee, T. L.; Thiess, S.; Wild, C.; Zegenhagen, J. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2009 p.29-39
Time-resolved photodetached spectroscopy of H- in electric field near an elastic surface
Wang, L.; Wang, Y.; Ran, S.; Yang, G. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2009 p.40-43
Optimization of analysis of soft X-ray spectromicroscopy at the Ca 2p edge
Hanhan, S.; Smith, A. M.; Obst, M.; Hitchcock, A. P. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2009 p.44-49
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