다품종 소량생산 공정에서는 동일 특성을 가지는 제품의 제작 개수가 절대적으로 적기 때문에 전통적인 공정제어 기법인 통계적 공정관리(Statistical Process Control)를 적용하기에는 어려움이 ...

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2010
Korean
KCI등재
학술저널
47-57(11쪽)
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다품종 소량생산 공정에서는 동일 특성을 가지는 제품의 제작 개수가 절대적으로 적기 때문에 전통적인 공정제어 기법인 통계적 공정관리(Statistical Process Control)를 적용하기에는 어려움이 많이 존재한다. 그러므로 통계적인 접근법과 아울러 다양한 제품 특성을 규정짓기 위한 다양한 조건의 조합으로 이루어지는 SPEC규칙, 그리고 엔지니어의 경험에 기반한 노하우가 응집되어 있는 KNOWHOW규칙을 유연하게 설정하여 공정을 제어할 수 있는 규칙기반 공정관리 기술의 접목이 필요하다. 본 연구는 다품종 소량생산 공정에 적용 가능한 규칙기반 공정관리(Rule-based Process Control) 시스템을 제안하고, 이 시스템을 실제 반도체 생산공정에 적용하여 그 성과를 검증하였다.
다국어 초록 (Multilingual Abstract)
There have been many problems to apply SPC(Statistical Process Control) which is a traditional process control technology to the process of multi-product, small-sized production because a machine in the process manufactures small numbers, but various ...
There have been many problems to apply SPC(Statistical Process Control) which is a traditional process control technology to the process of multi-product, small-sized production because a machine in the process manufactures small numbers, but various kinds of products. Therefore, we need the new process control system that can flexibly control the process by setting up the SPEC rules and the KNOWHOW rules. The SPEC rule contains the combination of diverse conditions to specify the characteristics of various products. The KNOWHOW rule is based on engineers’ know-how. The study suggests the Rule-base Process Control that can be optimized to the multi-product, small-sized production. It was validated in the process of semiconductor production.
목차 (Table of Contents)
참고문헌 (Reference)
1 이상용, "통계적 공정관리(SPC)와 기술적 공정제어(EPC)의 통합 시스템 설계에 관한 연구" 1-14, 2002
2 이명수, "통계적 공정 관리(SPC)와 엔지니어링 공정 관리(EPC)의 비교 조사:통합 방안을 중심으로" 한국품질경영학회 33 (33): 22-31, 2005
3 서순근, "단기 생산공정에 활용되는 SPC 기법의 비교 연구" 28 (28): 70-88, 2000
4 "http://www.ksia.or.kr/semi/semi_sub6_1.htm"
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6 Del Castillo, E., "Statistical process adjustment for quality control" John Wiley & Sons, Inc. 2002
7 Del Castillo, E., "Short-run statistical process control: Q-Chart enhancements and alternative methods" 10 (10): 87-97, 1994
8 Wasserman G.S., "Short run SPC based upon the second order dynamic linear model for trend detection" 22 (22): 1011-1036, 1993
9 Quesenberry, C. P., "SPC Q charts for start-up processes and short or long runs" 23 (23): 213-224, 1991
10 Montgomery, D. C., "Introduction to statistical quality control, 2nd Ed" John Wiley & Sons, Inc. 1991
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14 J. M Steingerwald, "Chemical Mechanical Microelectronic Materials" Wiley & Sons Inc 1997
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학술지 이력
| 연월일 | 이력구분 | 이력상세 | 등재구분 |
|---|---|---|---|
| 2026 | 평가 | 재인증평가 신청대상 (재인증) | |
| 2020-01-01 | 등재 | 등재학술지 유지 (재인증) | ![]() |
| 2017-01-01 | 등재 | 등재학술지 유지 (계속평가) | ![]() |
| 2013-01-01 | 등재 | 등재학술지 유지 (등재유지) | ![]() |
| 2010-01-01 | 등재 | 등재학술지 선정 (등재후보2차) | ![]() |
| 2009-01-01 | 등재 | 등재후보 1차 PASS (등재후보1차) | ![]() |
| 2008-01-01 | 등재 | 신청제한 (등재후보1차) | |
| 2007-01-01 | 등재 | 등재후보학술지 유지 (등재후보1차) | ![]() |
| 2005-01-01 | 등재 | 등재후보학술지 선정 (신규평가) | ![]() |
학술지 인용정보
| 기준연도 | WOS-KCI 통합IF(2년) | KCIF(2년) | KCIF(3년) |
|---|---|---|---|
| 2016 | 0.57 | 0.57 | 0.58 |
| KCIF(4년) | KCIF(5년) | 중심성지수(3년) | 즉시성지수 |
| 0.6 | 0.6 | 0.796 | 0.32 |