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ア ァ カ サ ザ タ ダ ナ ハ バ パ マ ヤ ャ ラ ワ ヮ ン イ ィ キ ギ シ ジ チ ヂ ニ ヒ ビ ピ ミ リ ウ ゥ ク グ ス ズ ツ ヅ ッ ヌ フ ブ プ ム ユ ュ ル エ ェ ケ ゲ セ ゼ テ デ ヘ ベ ペ メ レ オ ォ コ ゴ ソ ゾ ト ド ノ ホ ボ ポ モ ヨ ョ ロ ヲ ―

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Α Β Γ Δ Ε Ζ Η Θ Ι Κ Λ Μ Ν Ξ Ο Π Ρ Σ Τ Υ Φ Χ Ψ Ω α β γ δ ε ζ η θ ι κ λ μ ν ξ ο π ρ σ τ υ φ χ ψ ω
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§ ※ ☆ ★ ○ ● ◎ ◇ ◆ □ ■ △ ▽ → ← ↑ ↓ ↔ 〓 ◁ ◀ ▷ ▶ ♤ ♠ ♡ ♥ ♧ ♣ ⊙ ◈ ▣ ◐ ◑ ▒ ▤ ▥ ▨ ▧ ▦ ▩ ♨ ☏ ☎ ☜ ☞ † ‡ ↕ ↗ ↙ ↖ ↘ ♭ ♩ ♪ ♬ ㉿ ㈜ № ㏇ ™ ㏂ ㏘ ℡ ＃ ＆ ＊ ＠ ª º
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      유전체 박막 산화알미늄의 절연파괴에 관한 연구 = The Dielectric Breakdown of Anodic Aluminium Oxide films

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      https://www.riss.kr/link?id=A40014826

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      This study is to have measured the breakdown voltage into non-shorting after forming by anodizing from film thickness 1000Å to 8000A. As a result of this the breakdown voltage have widely been distributed in a forming voltage, and the relation of andodizing voltage and breakdown voltage has had a close one, and that have invested the electron fild strength by thickness.
      By the upper facts that the breakdown voltage by thickness is in inverse proportion to thickness.

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      This study is to have measured the breakdown voltage into non-shorting after forming by anodizing from film thickness 1000Å to 8000A. As a result of this the breakdown voltage have widely been distributed in a forming voltage, and the relation of an...

      This study is to have measured the breakdown voltage into non-shorting after forming by anodizing from film thickness 1000Å to 8000A. As a result of this the breakdown voltage have widely been distributed in a forming voltage, and the relation of andodizing voltage and breakdown voltage has had a close one, and that have invested the electron fild strength by thickness.
      By the upper facts that the breakdown voltage by thickness is in inverse proportion to thickness.

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