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Stopping powers of A-150 tissue equivalent plastic for protons from 2.5 TO 7.5 MeV
R. Ishiwari; N. Shiomi-Tsuda; N. Sakamoto; H. Ogawa Elsevier BV 1990 p.111-117
The effects of surface roughness characterized by fractal geometry on sputtering
David N. Ruzic Elsevier BV 1990 p.118-125
Topographical features of ion bombardment-induced microcones on Ag thin films
M. Tanemura; F. Okuyama Elsevier BV 1990 p.126-132
A PIXE-PIGE setup for the analysis of thin samples
C. Boni; A. Caridi; E. Cereda; G.M.Braga Marcazzan Elsevier BV 1990 p.133-142
Radiation damage in PIXE analysis of museum paper-like objects
Zeng Xianzhou; Wu Xiankang; Shao Qiyun; Tang Jiayong; Yang Fujia Elsevier BV 1990 p.143-147
Heavy ion backscattering analysis with a time-of-flight detector
M. Dobeli; P.C. Haubert; R.P. Livi; S.J. Spicklemire; T.A. Tombrello Elsevier BV 1990 p.148-154
Rutherford backscattering and channelling studies of erbium implanted SIMOX * structures
Jingping Zhang; Y.S. Tang; P.L.F. Hemment; B.J. Sealy Elsevier BV 1990 p.155-159
Analysis of lattice distortion in InxGa1-xAs crystals by dechanneling
Rolf Flagmeyer; Konrad Gartner Elsevier BV 1990 p.160-166
D. Singy; P.A. Schmelzbach; W. Gruebler; W.Z. Zhang Elsevier BV 1990 p.167-180
Mossbauer spectrum curve fitting with a personal computer
Z. Mei; J.W. Morris Elsevier BV 1990 p.181-186
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