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Statistical analysis of light fragment production from medium energy proton-induced reactions
Furihata, S. Elsevier Science; 1999 2000 p.251-258
Varenne, O. Elsevier Science; 1999 2000 p.259-276
Inferring ejection distances and a surface energy profile in keV particle bombardment experiments
Delcorte, A. Elsevier Science; 1999 2000 p.277-290
Simulation of particle-induced electron emission in aluminum and copper
Steinbauer, E. Elsevier Science; 1999 2000 p.291-300
Polyenergy ion beam synthesis of buried oxynitride layer in silicon
Barabanenkov, M. Y. Elsevier Science; 1999 2000 p.301-308
Bose-glass phase in crossed heavy ion irradiated YBa2Cu3O7-d
Divakar, U. Elsevier Science; 1999 2000 p.309-313
Modeling layer-by-layer growth in ion beam assisted deposition of thin films
Koponen, I. T. Elsevier Science; 1999 2000 p.314-324
Au-Si eutectic alloy formation by Si implantation in polycrystalline Au
Kennedy, V. J. Elsevier Science; 1999 2000 p.325-331
The simulation of SIMS measurements of light element profiles in diamond
Shaanan, M. Elsevier Science; 1999 2000 p.332-341
Trace element analysis of Alexander the Great`s silver tetradrachms minted in Macedonia
Kallithrakas-Kontos, N. Elsevier Science; 1999 2000 p.342-349
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