투과전자현미경을 이용한 3차원적 구조분석의 신뢰도를 향상시키기 위해서는 고니오미터와 사용되는 시료 홀더에 대한 정확도와 정밀도의 측정 및 보정이 필요하다. 본 연구에서는 상업용 ...
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김진규 (한국기초과학지원연구원 전자현미경연구부) ; 정종만 (한국기초과학지원연구원 전자현미경연구부) ; 김영민 (한국기초과학지원연구원 전자현미경연구부) ; 김윤중 (한국기초과학지원연구원 전자현미경연구부) ; Kim, Jin-Gyu ; Jeong, Jong-Man ; Kim, Young-Min ; Kim, Youn-Joong
2006
Korean
KCI등재,SCOPUS
학술저널
209-216(8쪽)
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투과전자현미경을 이용한 3차원적 구조분석의 신뢰도를 향상시키기 위해서는 고니오미터와 사용되는 시료 홀더에 대한 정확도와 정밀도의 측정 및 보정이 필요하다. 본 연구에서는 상업용 ...
투과전자현미경을 이용한 3차원적 구조분석의 신뢰도를 향상시키기 위해서는 고니오미터와 사용되는 시료 홀더에 대한 정확도와 정밀도의 측정 및 보정이 필요하다. 본 연구에서는 상업용 투과전자현미경 홀더 중의 하나인 rotation holder에 대한 작동원리를 기술하고 회전각의 정확도를 측정하였다. 투과전자현미경 내부에서 회전된 이미지의 분석을 통한 홀더의 회전각의 측정오차는 ${\pm}0.42^{\circ}$이었다. 회전각의 정확도를 비교하기 위해 투과전자 현미경 외부에서 시료 홀더에 부착된 반사경에 레이저 빔을 반사시켜 측정한 결과, 회전각의 측정오차는 ${\pm}0.6^{\circ}$이었다. 추가적으로 시료컵과 회전벨트 사이의 불안정한 맞물림에 의해 야기된 비정상적인 시료의 회전경로에 대해서도 점검하였다.
다국어 초록 (Multilingual Abstract)
Accuracy and precision of the goniometer and the specimen holder should be measured and corrected to improve reliability of 3-D structure analysis using transmission electron microscopy (TEM). In this study, we described the operation principle and pe...
Accuracy and precision of the goniometer and the specimen holder should be measured and corrected to improve reliability of 3-D structure analysis using transmission electron microscopy (TEM). In this study, we described the operation principle and performance of the Gatan rotation holder. Through analysis of the images taken inside the microscope, rotation angles were measured within the accuracy of ${\pm}0.42^{\circ}$. For comparison the rotation angles were measured outside the microscope using a home-made measurement tool, which resulted in the accuracy of ${\pm}0.6^{\circ}$. Additionally, we found abnormal specimen drifts during rotation probably due to the unstable engagement between the specimen cup and the rotation belt.
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학술지 이력
연월일 | 이력구분 | 이력상세 | 등재구분 |
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2022 | 평가예정 | 재인증평가 신청대상 (재인증) | |
2019-01-01 | 평가 | 등재학술지 선정 (계속평가) | |
2018-12-01 | 평가 | 등재후보로 하락 (계속평가) | |
2015-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | |
2014-03-17 | 학술지명변경 | 외국어명 : Korean Journal of Microscopy -> Applied Microscopy | |
2011-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | |
2009-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | |
2008-09-22 | 학술지명변경 | 한글명 : 한국전자현미경학회지 -> 한국현미경학회지외국어명 : Korean Journal of Electron Microscopy -> Korean Journal of Microscopy | |
2007-10-24 | 학회명변경 | 한글명 : 한국전자현미경학회 -> 한국현미경학회영문명 : Korean Society Of Electron Microscopy -> Korean Society Of Microscopy | |
2007-01-01 | 평가 | 등재 1차 FAIL (등재유지) | |
2004-01-01 | 평가 | 등재학술지 선정 (등재후보2차) | |
2003-01-01 | 평가 | 등재후보 1차 PASS (등재후보1차) | |
2002-01-01 | 평가 | 등재후보학술지 유지 (등재후보1차) | |
1999-01-01 | 평가 | 등재후보학술지 선정 (신규평가) |
학술지 인용정보
기준연도 | WOS-KCI 통합IF(2년) | KCIF(2년) | KCIF(3년) |
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2016 | 0.11 | 0.11 | 0.12 |
KCIF(4년) | KCIF(5년) | 중심성지수(3년) | 즉시성지수 |
0.12 | 0.12 | 0.273 | 0 |