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Amelioration du dosage de traces en fluorescence X par l'utilisation du pic net Compton
Gruffat, J. J. les editions de physique 1996 p.C4-635-C4-640
Analyse de couches minces. Rendement d'excitation
Broll, N.; Dontenwill, V.; Zeh, E. les editions de physique 1996 p.C4-659-C4-666
Analyse de depots PVD de tantale par diffraction X
Chekour, L.; Krier, J.; Halimi, R.; Cornet, A. Les editions de physique 1996 p.C4-251-C4-258
Analyse des plantes medicinales malgaches par fluorescence X en reflexion totale
Lahatra Razafindramisa, F.; Andriambololona, R.; Brunel, M.; Van Grieken, R. les editions de physique 1996 p.C4-833-C4-842
Analyse de traces dans le PVDF par fluorescence X et ICP-MS avec ablation laser
Bertucci, M.; Zydowicz, P. les editions de physique 1996 p.C4-853-C4-862
Krier, J.; Miller, P.; Cornet, A. Les editions de physique 1996 p.C4-267-C4-272
Llopiz, N.; Cornet, A. Les editions de physique 1996 p.C4-143-C4-147
Amalhay, M.; Ignatiadis, I. les editions de physique 1996 p.C4-913-C4-920
Malezieux, J. M.; Gillet, P.; Itie, J. P. les editions de physique 1996 p.C4-561-C4-570
Application of Multiple Scattering in Platinum Based Heterogeneous Catalysts
Bazin, D.; Bensaddik, A.; Dexpert, H.; Lynch, J. les editions de physique 1996 p.C4-487-C4-492
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