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https://www.riss.kr/link?id=A104477791
2004
Korean
KCI등재,SCOPUS,ESCI
학술저널
435-442(8쪽)
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다운로드참고문헌 (Reference)
1 "Test Method Standard Microcircuits"
2 "Microscale Material Testing of Single Crystalline Silicon Process Effects on Surface Morphology and Tensile Strength" A83 : 172-178, 2000
3 "Localized Silicon Fusion and Eutectic Bonding for MEMS Fabrication and Packaing" 3-8, 2000
4 "Gas Tightness of Cavities Sealed by Silicon Wafer Bonding,"" 488-493, u.
1 "Test Method Standard Microcircuits"
2 "Microscale Material Testing of Single Crystalline Silicon Process Effects on Surface Morphology and Tensile Strength" A83 : 172-178, 2000
3 "Localized Silicon Fusion and Eutectic Bonding for MEMS Fabrication and Packaing" 3-8, 2000
4 "Gas Tightness of Cavities Sealed by Silicon Wafer Bonding,"" 488-493, u.
인공신경망을 이용한 주조 스테인리스강의 열취화 민감도 평가
휜 광폭평판 시험을 이용한 원자력 배관의 파괴 거동예측
학술지 이력
| 연월일 | 이력구분 | 이력상세 | 등재구분 |
|---|---|---|---|
| 2023 | 평가예정 | 해외DB학술지평가 신청대상 (해외등재 학술지 평가) | |
| 2020-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (해외등재 학술지 평가) | |
| 2010-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | |
| 2008-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | |
| 2006-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | |
| 2004-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | |
| 2001-01-01 | 평가 | 등재학술지 선정 (등재후보2차) | |
| 1998-07-01 | 평가 | 등재후보학술지 선정 (신규평가) |  |
학술지 인용정보
| 기준연도 | WOS-KCI 통합IF(2년) | KCIF(2년) | KCIF(3년) |
|---|---|---|---|
| 2016 | 0.27 | 0.27 | 0.25 |
| KCIF(4년) | KCIF(5년) | 중심성지수(3년) | 즉시성지수 |
| 0.24 | 0.23 | 0.506 | 0.06 |
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