1 B. Sepúlvedal, 8 : S561-s566, 2006
2 F. J. Blanco, 384 : 44-46, 2006
3 M. Sieger, 85 : 3050-3052, 2013
4 A. Ymeti, 7 : 394-397, 2007
5 K. Schmitt, 22 : 2591-2597, 2007
6 S. Bhattacharya, 14 : 590-597, 2005
7 S. P. Pogossian, 16 : 1851-1853, 1998
8 F. Dell’Olio, 15 : 4977-4993, 2007
9 S. J. Choo, 19 : 095007-, 2009
10 H. G. Tompkins, 17 : 391-397, 1999
1 B. Sepúlvedal, 8 : S561-s566, 2006
2 F. J. Blanco, 384 : 44-46, 2006
3 M. Sieger, 85 : 3050-3052, 2013
4 A. Ymeti, 7 : 394-397, 2007
5 K. Schmitt, 22 : 2591-2597, 2007
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11 H. Fujiwara, "Spectroscopic Ellipsometry: Principles and Applications" Wiley 170-172, 2007
12 추성중, "An Integrated Mach-Zehnder Interferometric Sensor Fabricated by Using Cr Mask Extension Lithography" 한국물리학회 60 (60): 744-749, 2012