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      주사전자현미경에서 가속전압의 안정성 연구 = A Study on the Stability of the Accelerating Voltages in Scanning Electron Microscopy

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      https://www.riss.kr/link?id=A100571495

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      The high acceleration voltage system used in scanning electron microscope were designed and manufactured to test its stability. The Cockcroft-Walton circuits are used both in the cathode voltage up to -30 kV and in the Wehnelt cylinder of -2 kV. The operating voltage of 6 V was applied to the heating of the filament. The wave forms which are formed in the second leg of the high voltage transformer were observed in the oscilloscope with 2 V of DC input. When the high voltages were in the range between 5 kV and 12 kV, the highest value of the stabilities of the generated voltages was obtained as 0.002%.
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      The high acceleration voltage system used in scanning electron microscope were designed and manufactured to test its stability. The Cockcroft-Walton circuits are used both in the cathode voltage up to -30 kV and in the Wehnelt cylinder of -2 kV. The o...

      The high acceleration voltage system used in scanning electron microscope were designed and manufactured to test its stability. The Cockcroft-Walton circuits are used both in the cathode voltage up to -30 kV and in the Wehnelt cylinder of -2 kV. The operating voltage of 6 V was applied to the heating of the filament. The wave forms which are formed in the second leg of the high voltage transformer were observed in the oscilloscope with 2 V of DC input. When the high voltages were in the range between 5 kV and 12 kV, the highest value of the stabilities of the generated voltages was obtained as 0.002%.

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      참고문헌 (Reference)

      1 "Switchmode power supply handbook" McGraw- Hill 64-107, 1999

      2 "Scanning electron microscopy and X-ray analysis" Plenum Press 21-67, 1992

      3 "Power electronic systems theory and design" 471-484, 2001

      4 "Handbook of charged particle optics" CRC press 363-402, 1997

      1 "Switchmode power supply handbook" McGraw- Hill 64-107, 1999

      2 "Scanning electron microscopy and X-ray analysis" Plenum Press 21-67, 1992

      3 "Power electronic systems theory and design" 471-484, 2001

      4 "Handbook of charged particle optics" CRC press 363-402, 1997

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      2019-01-01 평가 등재학술지 선정 (계속평가) KCI등재
      2018-12-01 평가 등재후보로 하락 (계속평가) KCI등재후보
      2015-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2014-03-17 학술지명변경 외국어명 : Korean Journal of Microscopy -> Applied Microscopy KCI등재
      2011-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2009-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2008-09-22 학술지명변경 한글명 : 한국전자현미경학회지 -> 한국현미경학회지
      외국어명 : Korean Journal of Electron Microscopy -> Korean Journal of Microscopy      		 KCI등재
      2007-10-24 학회명변경 한글명 : 한국전자현미경학회 -> 한국현미경학회
      영문명 : Korean Society Of Electron Microscopy -> Korean Society Of Microscopy      		 KCI등재
      2007-01-01 평가 등재 1차 FAIL (등재유지) KCI등재
      2004-01-01 평가 등재학술지 선정 (등재후보2차) KCI등재
      2003-01-01 평가 등재후보 1차 PASS (등재후보1차) KCI등재후보
      2002-01-01 평가 등재후보학술지 유지 (등재후보1차) KCI등재후보
      1999-01-01 평가 등재후보학술지 선정 (신규평가) KCI등재후보
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      기준연도 WOS-KCI 통합IF(2년) KCIF(2년) KCIF(3년)
      2016 0.11 0.11 0.12
      KCIF(4년) KCIF(5년) 중심성지수(3년) 즉시성지수
      0.12 0.12 0.273 0
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