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Characterization and metrology for ULSI technology 2000 : International Conference,Gaithersburg, Maryland, 26-29, June 2000
Seiler, David G American Institute of Physics 2000
Improved characterization and evaluation measurements for HgCdTe detector materials, processes, and devices used on the GOES and TIROS satellites [microform]
Seiler, David G For sale by the Supt. of Docs., U.S. G.P.O. U.S. D 1994
Frontiers of characterization and metrology for nanoelectronics : 2009 International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics : Albany, New York, 11-15 May 2009
Seiler, David G AIP Conference Proceedings 2009
Characterization and metrology for ULSI technology, 2000 : international conference, Gaithersburg, Maryland, 26-29 June 2000
Seiler, David G American Institute of Physics 2001
Characterization and metrology for ULSI technology : 1998 international conference, Gaithersburg, Maryland, March 1998
Seiler, David G American Institute of Physics 1998
The spectroscopy of semiconductors
Seiler, David G Academic Press 1992
American vacuum society series 11 : physics and chemistry of mercury cadmium telluride and novel in detector materials
Seiler, David G. American Institute of Physics 1991
The Spectroscopy of Semiconductors
Seiler, David G Academic Press 1966
Narrow-gap semiconductors and related materials
Littler, C. L A. Hilger 1990
Metrology and diagnostic techniques for nanoelectronics
Ma, Zhiyong Pan Stanford Publishing 2016
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