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Boher, P. ELSEVIER SEQUOIA SA 1998 Thin Solid Films Vol.319 No.1-2
Generalized ellipsometry for the characterization of anisotropic materials: influence of the sample adjustment on the extracted optical indices
Boher, P., Piel, J. P., Sacepe, B. Elsevier, 2004 Thin Solid Films Vol.455-456 No.1-2
Light-scattered measurements using Fourier optics: a new tool for surface characterization [5457-34]
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Automated metrology system including VUV spectroscopic ellipsometry and X-ray reflectometry for 300 mm silicon microelectronics
Boher, P., Evrard, P., Condat, O., Dos Reis, C., D Elsevier, 2004 Thin Solid Films Vol.455-456 No.1-2
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A comparative transcriptomic approach to understanding the formation of cork
Boher, P., Soler, M. a., Sánchez, A., Hoede, C., N Springer Science + Business Media 2018 Plant Molecular Biology Vol.96 No.1-2
Paper No S13.3: Optical Characterization of OLED Displays
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Spectroscopic ellipsometry for Si~(~1~-~x~)Ge~x characterization: comparison with other experimental techniques
Boher, P North-Holland Pub. Co 1995 Journal of crystal growth Vol.157 No.1
A new multiple wavelength ellipsometric imager: design, limitations and applications
Boher, P., Thomas, O., Piel, J. P., Stehle, J. L. Elsevier, 2004 Thin Solid Films Vol.455-456 No.1-2
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