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      • 웹기반 콘크리트 구조물 균열진단 시스템 개발

        하주형,조윤구,이석홍,Ha. Ju-Hyung,Cho. Yun-Gu,Lee. Suck-Hong 한국방재학회 2007 한국방재학회 학술발표대회논문집 Vol.2007 No.1

        In recent years, the concrete cracks in most construction field have been widely presented and developed. Also it is well known the repair cost of the concrete cracks have been rapidly increased in Korea. So the concrete crack expert system was developed to minimize the repair cost and to support the field engineer. The feature of this web based system for diagnosing the causes of concrete cracks is comprised of comfortable user application.

      • KCI등재

        r-Plane sapphire 위에 HVPE에 의해 성장한 a-plane GaN에피텍셜층의 V/III족 ratio에 따른 특성 변화

        하주형,박미선,이원재,최영준,이혜용,Ha, Ju-Hyung,Park, Mi-Seon,Lee, Won-Jae,Choi, Young-Jun,Lee, Hae-Yong 한국결정성장학회 2014 한국결정성장학회지 Vol.24 No.3

        V/III족 ratio의 변화에 따른 r-plane의 sapphire 위에 HVPE로 성장한 a-plane GaN 에피텍셜층의 특성변화를 연구하였다. V/III족 ratio가 증가함에 따라서, a-plane (11-20) GaN에 대한 Rocking Curve의 FWHM의 값이 감소하며, 성장된 GaN의 표면 거칠기도 감소하고, 성장성도는 증가하다가 V/III족 ratio 7까지는 증가하다가 다시 감소하는 경향을 보여준다. 즉 V/III족 ratio 10에서 a-plane (11-20) GaN에 대한 Rocking Curve의 FWHM의 가장 작은 829 arcsec값을 보이고, 표면거칠기도 가장 작은 1.58 nm 값을 보인다. 또한 광학현미경상에서 관찰되는 내부 Crack 또는 void가 가장 적게 발생하였다. 그리고 M모양의 Azimuth angle 의존도를 전 샘플에서 보이며, V/III족 ratio 10에서 FWHM 최대값과 최소값의 편차값이 439 arcscec로 가장 작은 차이를 보였다. In this study, effects of the V/III ratio on a-plane GaN epitaxial on r-plane grown by HVPE have been investigated. According to increasing of V/III ratio, the value of FWHM of a-plane (11-20) GaN and the value of surface roughness (Ra) were decreased. Growth rate of a-plane GaN epitaxial layer were increased until V/III ratio = 7 as the increasing of V/III ratio, but it was reduced at V/III ratio = 10. At V/III ratio = 10, the FWHM of a-plane (11-20) GaN RC and the surface roughness (Ra) were 829 arcsec and 1.58 nm, respectively, as the lowest value in this study. Also for V/III ratio = 10, cracks under surface or voids were observed the lowest values in images of optical microscope. An M-shaped azimuthal dependence over $360^{\circ}$ angle range was observed for all samples. At V/III ratio = 10, the difference of FWHM of a-plane GaN between $0^{\circ}$ and $90^{\circ}$ was 439 arcsec revealed as the lowest value in the 4 samples.

      • 고정익 수직이착륙 무인비행기용 직렬하이브리드 추진 시스템의 발전 제어 시뮬레이션

        하주형,박규성,문창모,이근호 한국항공우주학회 2015 한국항공우주학회 학술발표회 논문집 Vol.2015 No.4

        무인 비행기의 항속 시간을 증가시키기 위해 여러 연구들이 진행되어 왔다. 본 연구에서는 수직이착륙에 필요한 큰 에너지를 에너지 밀도가 높은 배터리로 공급하고, 기존의 엔진보다 무게가 작은 엔진을 전기모터와 직렬 연결하여 배터리 충전을 위한 직렬하이브리드 추진 시스템을 구성하였다. 추진 동력원에는 BLDC모터가 사용된다. 이착륙 시에는 큰 전력이 필요하므로 배터리와 발전기에서 전력을 공급하고, 순항 시에는 발전기에서 공급한 에너지로 순항에 필요한 에너지와 충전을 위한 에너지를 공급하도록 알고리즘을 구성하였다. 이 시스템의 시뮬레이션을 통하여 발전 제어 알고리즘을 검증하고자 한다. Several studies have been conducted for increasing the endurance time. In this paper, the supplied energy for VTOL should be the large energy by the high energy density battery. The engine connect to the electric motor in series that is smaller than pervious one to be composed of Serial hybrid propulsion system for battery charging. BLDC motor is employed as propulsive power source. This algorithm is consist of VTOL mode and cruising mode according to the power supply pattern. In case of VTOL mode, high power is indispensable that are supplied by generator and battery. And during the cruise, the energies that are needed for generator, airplane cruising and battery charging should be taken into account. this simulation was used for verifying generating control algorithm.

      • KCI등재

        모바일 웹툰 애플리케이션 서비스 사용성 연구 - 네이버 웹툰과 레진 코믹스를 중심으로 -

        하주형,김승인 한국디지털정책학회 2016 디지털융복합연구 Vol.14 No.9

        Web-toon is provided to users in the form of Web-toon and The users are steadily rising and increasing amount of using time until today. Web-toon has become a popular pastime among smartphone users. Therefore, when providing services, Web-toon application should be made with an appropriate system so that it can be easily used, and considering problems that users may have while using the application, it should help users have better experiences. With Naver Web-toon and Lezin Comics as subjects, user experiences of teenagers were analyzed with questionnaires based on Honeycomb model of Peter Morville. The score of Naver Web-toon was higher than Lezin Comics after user experience assesment, and usability and accessibility as important factors turned out to be influential to teen-aged users who use Web-toon services. 만화가 웹툰이라는 형태로 사용자들에게 제공되기 시작하면서 현재까지 그 사용자들은 꾸준히 증가하고 사용 시간도 증가하고 있다. 웹툰은 스마트폰을 사용하는 사용자들이 취미로 이용하는 중요한 수단이 되어가고 있다. 그래서 웹툰 애플리케이션은 사용자에게 서비스를 제공하면서 사용자가 항상 편리하게 쓸 수 있도록 시스템을 고려해야하고 사용자들이 사용하면서 겪는 문제점들을 항상 인지하여 더 나은 사용자 경험을 할 수 있도록 해야 한다. 이 연구의 대상인 네이버 웹툰과 레진 코믹스를 대상으로 피터 모빌의 허니콤 모델을 기반으로 하여 설문지를 설계하고 10대를 대상으로 사용자 경험을 분석하였다. 네이버 웹툰이 레진 코믹스보다 사용자 경험 평가에서 높은 점수가 나왔으며 10대 사용자들이 웹툰 서비스를 이용하는 데 있어서 중요한 요소는 사용성과 접근성이 큰 영향을 미치는 것으로 나타났다.

      • KCI등재

        r면 사파이어 위에 HVPE로 성장된 a면 GaN 에피층의 성장온도 효과 및 1000℃에서의 V/III족 비의 효과

        하주형,박미선,이원재,최영준,이혜용,Ha, Ju-Hyung,Park, Mi-Seon,Lee, Won-Jae,Choi, Young-Jun,Lee, Hae-Yong 한국결정성장학회 2015 한국결정성장학회지 Vol.25 No.2

        Ga source 채널의 HCl flow가 700 sccm, 그리고 V/III족 비가 10으로 고정되었을 때, r-면 사파이어 위에 HVPE로 성장된 a-면 GaN 에피층 특성에 대한 성장 온도 영향을 연구하였다. 추가적으로 성장온도가 $1000^{\circ}C$, 그리고 Ga source 채널의 HCl flow가 700 sccm으로 고정되었을 때, 공급가스에 대한 V/III족 비 영향에 대하여 연구하였다. 성장온도가 높아지면서, a-면 GaN 에피층에 대한 (11-20) 면의 Rocking curve(RC)의 반치폭 값이 감소하였고 a-면 GaN 에피층의 성장두께는 증가하였다. $1000^{\circ}C$에서 V/III족 비가 높아짐에 따라, (11-20) 면의 RC의 반치폭 값이 감소하였고, a-면 GaN 에피층의 성장두께가 증가하였다. $1000^{\circ}C$와 V/III족 비=10에서 성장된 a-면 GaN 에피층이 (11-20) 면에서 가장 낮은 RC 반치폭인 734 arcsec을 보이며, RC측정을 통한 (11-20) 면의 방위각 가장 작은 영향을 보여준다. The effects of the growth temperature on the properties of a-plane GaN epi-layer on r-plane sapphire by HVPE were studied, when the constant V/III ratio and the flow rate of HCl for the Ga source channel was fixed at 10 and 700 sccm, respectively. Additionally the effects of V/III ratios for source gasses were studied when growth temperature and the flow rate of HCl for the Ga source channel was fixed at $1000^{\circ}C$ and 700 sccm, respectively. As the growth temperature was increased, the values of Full Width Half Maximum (FWHM) for Rocking curve (RC) of a-plane GaN (11-20) epi-layer were decreased and thickness of a-plane GaN epi-layer were increased. As V/III ratios were increased at $1000^{\circ}C$, the values of FWHM for RC of a-plane GaN (11-20) were declined and thickness of a-plane GaN epi-layer were increased. The a-plane GaN (11-20) epi-layer grown at $1000^{\circ}C$ and V/III ratio = 10 showed the lowest value FWHM for RC of a-plane GaN (11-20) for 734 arcsec and the smallest dependence of Azimuth angle for FWHM of (11-20) RCs.

      • KCI등재

        Effects of the Group V/III Ratio and a GaN Inter-layer on the Crystal Quality of InN Grown by Using the Hydride Vapor-phase Epitaxy Method

        하주형,왕주안,이원재,최영준,Hae-Yong Lee,Jung-Gon Kim,Hiroshi Harima 한국물리학회 2015 THE JOURNAL OF THE KOREAN PHYSICAL SOCIETY Vol.66 No.6

        The hydride vapor-phase epitaxy (HVPE) method was used to deposit high-quality InN layerson GaN inter-layer/sapphire (0001) structures that had been fabricated by using either the HVPEmethod or the metal-organic chemical-phase deposition (MOCVD) method. The effects of the groupV/III ratio and different GaN inter-layers on the crystal quality of the InN layers were systemicallyinvestigated. The InN layer grown at a low Group V/III ratio revealed a high crystal qualitywith a two-dimensional (2D) growth mode. Also, the 110.7-nm-thick InN layer grown by usingHVPE on a GaN inter-layer/sapphire (0001) substrate structure that had been fabricated by usingMOCVD had a high crystal quality, with the full width at half maximum (FWHM) of the InNX-ray diffraction (XRD) peak being about 844 arcsec, and a smooth surface with an atomic forcemicroscopy (AFM) roughness of about 0.07 nm. On the other hand, the 145.7-nm-thick InN layergrown by using HVPE on a GaN inter-layer/sapphire (0001) substrate structure that had beenfabricated by using the HVPE method had a lower crystal quality, a FWHM value for the InN(0002) peak of about 2772 arcsec, and a surface roughness of about 3.73 nm. In addition, the peakof the E2 (high) phonon mode for the 110.7-nm-thick InN layer grown by using HVPE on a GaNinter-layer/sapphire (0001) structure that had been fabricated by using MOCVD was detected at491 cm−1 and had a FWHM of 9.9 cm−1. As a result, InN layers grown by using HVPE on GaNinter-layer/sapphire (0001) substrate structures fabricated by using MOCVD have a high crystalquality and a reduced Raman value, which agrees well with the results of the XRD analysis.

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