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      • KCI등재

        열사이클에 따른 Cu-Zn-Al 형상기억합금의 형상기억능, 조직 및 결정구조변화

        정인상,박경채,이성 대한금속재료학회(대한금속학회) 1988 대한금속·재료학회지 Vol.26 No.11

        The shape memory ability, microstructure and crystal structure in Cu-21.30Zn-5. 36Al(wt.%) shape memory alloy have been extensively studied as a function of thermal cycling. Crystal structure of quenched alloy is M18R(β₁') martensite, and it become fragmentary with increasing thermal cycles. Shape memory ability is decreased and stress-induced 2H(γ₁') martensite and residual parent (DO₃) phase are founded during thermal cycling. Reversible shape memory effect is occurred according to thermal cycling at 473K, in which martensite plate, only 18R structure, is occurred incorporation and intersection.

      • KCI등재

        다단계 스택 지향 포인터가 있는 프로그램 테스트를 위한 테스트 데이터 자동 생성

        정인상,Chung, In-Sang 한국정보처리학회 2010 정보처리학회논문지D Vol.17 No.4

        최근에 콘콜릭 테스트이라 불리는 새로운 테스팅 방법이 많은 관심을 받고 있다. 콘콜릭 테스팅은 높은 테스트 커버리지를 달성하기 위해 실제 프로그램 수행과 심볼릭 수행을 결합하여 테스트 데이터를 생성한다. CREST는 콘콜릭 테스팅을 구현한 대표적인 open-source 테스트 도구이다. 그러나 현재 CREST는 입력으로 정수형만 다룬다. 이 논문은 포인터형인 입력이 존재하는 경우에 자동 테스트 데이터 생성을 위한 새로운 규칙을 제안한다. 이 규칙들은 C 프로그램에서 주로 사용되는 다단계 스택 지향 포인터를 효과적으로 처리한다. 또한, 이 논문에서는 제안 된 규칙을 구현한 vCREST라 불리는 도구에 대해 기술하고 C 프로그램에 적용한 결과도 함께 기술한다. Recently, a new testing technique called concolic testing receives lots of attention. Concolic testing generates test data by combining concrete program execution and symbolic execution to achieve high test coverage. CREST is a representative open-source test tool implementing concolic testing. Currently, however, CREST only deals with integer type as input. This paper presents a new rule for automated test data generation in presence of inputs of pointer type. The rules effectively handles multi-level stack-directed pointers that are mainly used in C programs. In addition, we describe a tool named vCREST implementing the proposed rules together with the results of applying the tool to some C programs.

      • KCI등재

        SAT를 기반으로 하는 플래그 변수가 있는 프로그램 테스팅을 위한 테스트 데이터 자동 생성

        정인상,Chung, In-Sang 한국정보처리학회 2009 정보처리학회논문지D Vol.16 No.3

        Recently, lots of research on automated test data generation has been actively done. However, techniques for automated test data generation presented so far have been proved ineffective for programs with flag variables. It can present problems when considering embedded systems such as engine controllers that make extensive use of flag variables to record state information concerning devices. This paper introduces a technique for generating test data effectively for programs with flag variables. The presented technique transforms the test data generation problem into a SAT(SATisfiability) problem and makes advantage of SAT solvers for automated test data generation(ATDG). For the ends, we transform a program under test into Alloy which is the first-order relational logic and then produce test data via Alloy analyzer. 최근에 테스트 데이터를 자동으로 생성하는 방법에 관한 연구가 활발하게 진행되고 있다. 그러나 이러한 방법들은 플래그 변수가 프로그램에 존재하는 경우에는 효과적이지 못함이 밝혀졌다. 이는 엔진 제어기와 같은 내장형 시스템들이 전형적으로 디바이스 관련 상태 정보를 기록하기 위해 플래그 변수를 많이 이용한다는 점을 고려할 때 문제가 된다. 이 논문에서는 플래그 변수가 있는 프로그램에 대하여 효과적으로 테스트 데이터를 생성할 수 있는 방법을 소개한다. 이 방법은 테스트 데이터 생성 문제를 SAT(SATisfiability) 문제로 변환하고 SAT 해결도구를 이용하여 자동으로 테스트 데이터를 생성한다. 이를 위해 프로그램을 1차 관계 논리 언어인 Alloy로 변환하고 Alloy 분석기를 통하여 테스트 데이터를 생성한다.

      • KCI등재

        Modeling Pairwise Test Generation from Cause-Effect Graphs as a Boolean Satisfiability Problem

        정인상 한국콘텐츠학회 2014 International Journal of Contents Vol.10 No.3

        A cause-effect graph considers only the desired external behavior of a system by identifying input-output parameter relationships in the specification. When testing a software system with cause-effect graphs, it is important to derive a moderate number of tests while avoiding loss in fault detection ability. Pairwise testing is known to be effective in determining errors while considering only a small portion of the input space. In this paper, we present a new testing technique that generates pairwise tests from a cause-effect graph. We use a Boolean Satisbiability (SAT) solver to generate pairwise tests from a cause-effect graph. The Alloy language is used for encoding the cause-effect graphs and its SAT solver is applied to generate the pairwise tests. Using a SAT solver allows us to effectively manage constraints over the input parameters and facilitates the generation of pairwise tests, even in the situations where other techniques fail to satisfy full pairwise coverage.

      • KCI등재

        Iodide/Iodine용액에서 CPU chip 분쇄물의 금 침출특성

        정인상,조아람,최준철,송유진,박풍원,박경호,이수정,박재구,Jung, Insang,Joe, Aram,Choi, Joonchul,Song, Youjin,Park, Poongwon,Park, Kyungho,Lee, Sujeong,Park, Jaikoo 한국자원리싸이클링학회 2016 資源 리싸이클링 Vol.25 No.1

        요오드용액을 사용하여 노트북 인쇄회로기판 CPU chip 중에 함유된 금을 침출하는 연구를 진행하였다. 150 mesh 이하로 분쇄된 CPU chip을 Iodide/Iodine용액에서 처리한 결과 금의 침출율은 20%로 매우 낮게 나타났다. 이와 같이 낮은 침출율의 원인은 CPU chip 분쇄과정에서 금 입자 표면에 생성된 구리 피막이 침출액과 금의 접촉을 방해하기 때문인 것으로 판단되었다. 한편, CPU chip 분쇄물을 질산용액을 사용하여 전처리 한 후 Iodide/Iodine 용액으로 침출하였을 때 금의 침출율은 약 90%으로 크게 증가하였다. 이 현상을 설명하기 위하여 침출 잔사를 EDS 및 ICP 분석을 통해 관찰한 결과, 금 입자표면에 피복되어 있는 구리의 약 80%가 질산에 의해 제거되었으며 이로 인해 금의 침출율이 향상된 것을 확인할 수 있었다. The leaching behavior of gold from waste CPU chip using Iodide/Iodine solution was studied. The direct leaching of gold with Iodide/Iodine solution for CPU chip under the size of 150 mesh showed leaching ratio of 20%. It was assumed that the copper film was produced on the gold particle during grinding process and the copper film prevents lodine/Iodide solution from contacting with leachable gold. Meanwhile, the extraction of gold was improved to 90% by pretreatment process with $HNO_3$ solution. In order to explain the result, EDS and ICP analysis for the leaching residue were conducted. It was found that the copper coated on the surface of the gold particle was removed about 80% by $HNO_3$, resulting in the increment of gold leaching rate.

      • KCI등재

        Ni-Al-Fe-Mn 형상기억합금의 형상회복거동에 미치는 변형량과 미세조직의 영향

        정인상,최창수 대한금속재료학회(대한금속학회) 1999 대한금속·재료학회지 Vol.37 No.8

        The shape recovery behavior in Ni-A1 base shape memory alloy whose ductility is improved with Fe and Mn alloying has been investigated by using DSC, XRD and TEM. On heating, the deformed alloys were experienced a double-stage recovery process before they returned to the original shape : The first-stage recovery occurred at lower temperature and the second-stage recovery take place at higher temperature. Increase of bending or tensile strain affected total shape recovery such that it leaded to an increase of the second-stage shape recovery. The shape re-covery at a higher temperature, i.e., second-stage shape recovery was attributed to the hinderance of β' →β transformation by the dislocations in β' martensite introduced during deformation. Possibly, the elastics stress field associated with dislocations would hinder the motion of β'/β boundary. When the alloys were bended at the same strain the second shape recovery increased with annealing at higher temperature because of the increase of volume fraction of the β' martensite in the alloys consisted of β' martensite and β phase.

      • KCI등재
      • 국어학에서 본 컴퓨터와 한글

        정인상 국립국어연구원 1996 새국어생활 Vol.6 No.2

        지금까지의 논의를 종합하면 한글은 현행 맞춤법의 한계를 벗어나서 모두 16,399글자를 수용하게 되며, 한자는 기본적으로 4,966자를 수용하게 된다. 뿐만 아니라 만일의 경우를 대비하여 1,146자의 사용자 정의 문자 영역을 마련하였기 때문에 한자 부족분이나 한글 코드로 처리되지 못하는 옛글자 등의 실현을 위하여 완성형 코드로 활용할 수 있다. 여기에서 한글 16,399자는 고어 자모를 일부 포함한 조합형이기 때문에, 고어에 관한 한 실제로는 사용되지 않는 글자가 상당히 들어 있다. 앞으로 정밀한 검토를 거쳐서 불필요한 옛글자 조합을 제외할 수 있게 된다면, 바꾸어 말하여 필요한 옛글자 목록이 완성된다면 이들을 현행 한글과 합하여 영구적인 완성형 방식의 코드 체계도 생각해 볼 수 있을 것이다. 이렇게 하면 코드 영역을 보다 효율적으로 사용하는 것이 되어서 한자의 수용 능력이 훨씬 늘어 나게 될 것이다. 컴퓨터에서의 한글 문제는 궁극적으로 현행 한글과 옛글자, 그리고 한자를 얼마나 많이 수용하는가 하는 문제이기 때문이다. 그러나 현재로서는 현행 조합형 한글을 약간 확장시키는 선에서만 논의를 하였는바, 현행 조합형 코드 체계의 부족함을 보완하여 좀더 개선된 문자 코드 체계를 제시하면 다음과 같다.

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