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Interaction Deformation / Precipitation / Phase Transformation in Nb Micro-Alloyed Steels
Thibaux, P., Liebeherr, M., De Avila Cossa, D. Durnten-Zuerich; Trans Tech 2011 Diffusion and defect data, solid state data. Solid Vol.172-174 No.2
Oxygen Precipitation Studied by X-Ray Diffraction Techniques
Meduna, M., Caha, O., Ruzicka, J., Bernatova, S., Durnten-Zuerich; Trans Tech 2011 Diffusion and defect data, solid state data. Solid Vol.178-179 No.-
Investigation of Defects in Solar Cells and Wafers by Means of Magnetic Measurements
Buchwald, R., Kostner, S., Dreckschmidt, F., Molle Durnten-Zuerich; Trans Tech 2011 Diffusion and defect data, solid state data. Solid Vol.178-179 No.-
Defect Investigations via Positron Annihilation Spectroscopy on Proton Implanted Silicon
Schriefl, A.J., Sgouridis, S., Schustereder, W., P Durnten-Zuerich; Trans Tech 2011 Diffusion and defect data, solid state data. Solid Vol.178-179 No.-
Luminescent and Structural Properties of Self-Implanted Silicon Layers in Relation to Their Fabrication Conditions
Sobolev, N.A., Kalyadin, A., Shek, E.I., Vivdovin, Durnten-Zuerich; Trans Tech 2011 Diffusion and defect data, solid state data. Solid Vol.178-179 No.-
In Situ Observation of the Oxygen Nucleation in Silicon with X-Ray Single Crystal Diffraction
Will, J., Groschel, A., Bergmann, C., Magerl, A. Durnten-Zuerich; Trans Tech 2011 Diffusion and defect data, solid state data. Solid Vol.178-179 No.-
Structural Defect Studies of Semiconductor Crystals with Laue Topography
Groschel, A., Will, J., Bergmann, C., Grillenberge Durnten-Zuerich; Trans Tech 2011 Diffusion and defect data, solid state data. Solid Vol.178-179 No.-
Carrier Lifetime Studies in Diode Structures on Si Substrates with and without Ge Doping
Uleckas, A., Gaubas, E., Rafi, J.M., Chen, J., Yan Durnten-Zuerich; Trans Tech 2011 Diffusion and defect data, solid state data. Solid Vol.178-179 No.-
Positron Probing of Point Radiation Defects in Proton-Irradiated FZ-Silicon Single Crystals
Arutyunov, N.Y., Elsayed, M., Krause-Rehberg, R., Durnten-Zuerich; Trans Tech 2011 Diffusion and defect data, solid state data. Solid Vol.178-179 No.-
TEM Characterization of Near Sub-Grain Boundary Dislocations in Directionally Solidified Multicrystalline Silicon
Kivambe, M., Stokkan, G., Ervik, T., Ryningen, B. Durnten-Zuerich; Trans Tech 2011 Diffusion and defect data, solid state data. Solid Vol.178-179 No.-
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