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Influence of lateral and in-depth metal segregation on the patterning of ohmic contacts for GaN-based devices
Redondo-Cubero, A., Vazquez, L., Alves, L.C., Corr IOP PUBLISHING LTD 2014 Journal of Physics. D, Applied Physics Vol.47 No.18
Effect of rapid thermal annealing on the composition of Au/Ti
Redondo-Cubero, A., Ynsa, M. D., Romero, M. F., Al Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2013 Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Vol.306 No.-
On the origin of strain relaxation in epitaxial CdZnO layers (Invited Paper) [8626-22]
Redondo-Cubero, A., Rodrigues, J., Brandt, M., Sch International Society for Optical Engineering; 1999 2013 Proceedings of SPIE, the International Society for Vol.8626 No.-
Study of SiN~x:H~y passivant layers for AlGaN/GaN high electron mobility transistors
Redondo-Cubero, A., Gago, R., Romero, M.F., Jimene Weinheim; Wiley-VCH 2008 Physica Status Solidi C Vol.5 No.2
Ion beams as a tool for the characterization of near-pseudomorphic CdZnO epilayers (Invited Paper) [8263-28]
Redondo-Cubero, A., Brandt, M., Henneberger, F., A International Society for Optical Engineering; 1999 2012 Proceedings of SPIE, the International Society for Vol.8263 No.-
Self-consistent depth profiling and imaging of GaN-based transistors using ion microbeams
Redondo-Cubero, A., Corregidor, V., Vázquez, L., Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2015 Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Vol.348 No.-
Nanopatterning dynamics on Si(100) during oblique 40-keV Ar^+ erosion with metal codeposition: Morphological and compositional correlation (13 pages)
Redondo-Cubero, A., Gago, R., Palomares, F.J., Muc AMERICAN PHYSICAL SOCIETY 2012 Physical Review B Vol.86 No.8
Sublattice-specific ordering of ZnO layers during the heteroepitaxial growth at different temperatures (7 pages)
Redondo-Cubero, A., Vinnichenko, M., Krause, M., M AMERICAN INSTITUTE OF PHYSICS 2011 Journal of Applied Physics Vol.110 No.11
Ultrasmooth growth of amorphous silicon films through ion-induced long-range surface correlations
Redondo-Cubero, A., Gago, R., Vazquez, L. AMERICAN INSTITUTE OF PHYSICS 2011 Applied Physics Letters Vol.98 No.1
Aluminium incorporation in AlxGa1−xN/GaN heterostructures: A comparative study by ion beam analysis and X-ray diffraction
Redondo-Cubero, A., Gago, R., González-Posada, F. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2008 Thin Solid Films Vol.516 No.23
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