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Chien, Wei-Ting Kary IEEE 2020 IEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND MATERIALS RELIABIL Vol.20 No.1
The Competing Aging Effects on SRAM Operating Life Tests
Chien, Wei-Ting Kary IEEE 2019 IEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND MATERIALS RELIABIL Vol.19 No.2
Early detection and prediction of HKMG SRAM HTOL performance by WLR PBTI tests
Chien, Wei-Ting Kary, Zhao, Yong Atman, Zhu, Yueqi Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2016 Microelectronics and reliability Vol.64 No.-
Investigations and detections on a new BEOL dielectric failure mechanism at advanced technologies
Chien, Wei-Ting Kary, Zhao, Yong Atman, Zhang, Liw Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2018 Microelectronics and reliability Vol.81 No.-
Influence of I/O oxide process on the NBTI performance of 28nm HfO2-based HKMG p-MOSFETs
Chien, Wei-Ting Kary, Zhu, Yueqin, Song, Yongliang Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2016 Microelectronics and reliability Vol.64 No.-
Fast Semiconductor Reliability Assessments Using SPRT
Chien, Wei-Ting Kary IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2019 IEEE transactions on reliability Vol.68 No.2
Exploration of baking temperature effects on 28nm BEOL reliability
Zhao, XiangFu, Chien, Wei Ting Kary Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2017 Microelectronics and reliability Vol.72 No.-
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