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X-ray topography of natural tetrahedral diamonds
Yacoot, A. MINERALOGICAL SOCIETY 1993 Mineralogical magazine Vol.57 No.4
An atomic force microscope for the study of the effects of tip-sample interactions on dimensional metrology
Yacoot, A., Koenders, L., Wolff, H. IOP PUBLISHING LTD 2007 Measurement science & technology Vol.18 No.2
Recent developments in dimensional nanometrology using AFMs
Yacoot, A., Koenders, L. IOP PUBLISHING LTD 2011 Measurement science & technology Vol.22 No.12
Sub-atomic dimensional metrology: developments in the control of x-ray interferometers
Yacoot, Andrew , Kuetgens, Ulrich IOP Pub 2012 Measurement science & technology Vol.23 No.7
The use of x-ray interferometry to investigate the linearity of the NPL Differential Plane Mirror Optical Interferometer
Yacoot, A. IOP PUBLISHING LTD 2000 Measurement science & technology Vol.11 No.8
A combined scanning tunnelling microscope and x-ray interferometer
Yacoot, A. IOP PUBLISHING LTD 2001 Measurement science & technology Vol.12 No.10
Measurement of picometre non-linearity in an optical grating encoder using x-ray interferometry
Yacoot, A., Cross, N. IOP PUBLISHING LTD 2003 Measurement science & technology Vol.14 No.1
From nanometre to millimetre: a feasibility study of the combination of scanning probe microscopy and combined optical and x-ray interferometry
Yacoot, A., Koenders, L. IOP PUBLISHING LTD 2003 Measurement science & technology Vol.14 No.9
Design and performance of a test rig for evaluation of nanopositioning stages
Yacoot, Andrew,Klapetek, Petr,Valtr, Miroslav,Grol Institute of Physics Publishing 2019 Measurement science & technology Vol.30 No.3
Dimensional nanometrology at the National Physical Laboratory [7133-951]
Yacoot, A., Leach, R., Hughes, B., Giusca, C., Jon International Society for Optical Engineering; 1999 2008 Progress in Biomedical Optics and Imaging Vol.7133 No.2
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