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Investigation of block depth distribution in PS-b-PMMA block copolymer using ultra-low-energy cesium sputtering in ToF-SIMS
Terlier, T., Tiron, R., Gharbi, A., Chevalier, X. John Wiley & Sons, Ltd 2014 Surface and interface analysis Vol.46 No.2
Characterization of advanced ALD-based thin film barriers for organic electronics using ToF-SIMS analysis
Terlier, T., Maindron, T., Barnes, J.-P., Léonard, Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2018 ORGANIC ELECTRONICS Vol.59 No.-
Response to letter by Orhan et al. 2021, regarding Jeong et al. (2021) 'Assessment of the cytotoxic effects and chemical composition of the insoluble precipitate formed from sodium hypochlorite and chlorhexidine gluconate'
Terlier, Tanguy, Jeong, Ji Wook, Sarmast, Nima D. John Wiley & Sons, Ltd 2022 International endodontic journal Vol.55 No.6
Improvement of the Correlative AFM and ToF-SIMS Approach Using an Empirical Sputter Model for 3D Chemical Characterization
Terlier, T., Lee, J., Lee, K., Lee, Y. ACS AMERICAN CHEMICAL SOCIETY 2018 Analytical chemistry Vol.90 No.3
ToF-SIMS Depth Profiling of PS-b-PMMA Block Copolymers Using Ar~n^+, C~6~0^+^+, and Cs^+ Sputtering Ions
Terlier, T., Zappalà, G., Marie, C., Leonard, ACS AMERICAN CHEMICAL SOCIETY 2017 Analytical chemistry Vol.89 No.13
Chemical recognition based on high-accuracy matching factors as per time-of-flight–secondary-ion mass spectrometry: Application to trace cosmetic residues in human forensics
Terlier, Tanguy, Lee, Kang-Bong, Lee, Yeonhee Elsevier Science B.V., Amsterdam 2020 Microchemical Journal Vol.159 No.-
Structural colors and physical properties of elytra in the jewel beetle, Chrysochroa fulgidissima, using surface analytical techniques
Lee, Jihye, Terlier, Tanguy, Jang, Yun Jung, Lee, John Wiley & Sons, Ltd 2020 Surface and interface analysis Vol.52 No.10
Molecular identification of asian lacquers from different trees using py‐gc/ms and tof‐sims
Lee, Jihye, Jung, Se‐Bi, Terlier, Tanguy, Lee, Kan John Wiley & Sons, Ltd 2018 Surface and interface analysis Vol.50 No.7
Characterization of polymeric surfaces and interfaces using time‐of‐flight secondary ion mass spectrometry
Mei, Hao, Laws, Travis S., Terlier, Tanguy, Verduz John Wiley & Sons Ltd 2022 Journal of polymer science Vol.60 No.7
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