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NanoSIMS 50: Recent Results and Instrumental Development in Sub-Micron Isotopic and Elemental Analysis
Horreard, F. SPRINGER 2001 Microscopy and Microanalysis Vol.7//SUP2 No.-
Recent Results and Developments on the CAMECA NANOSIMS 50
Hillion, F.,Horreard, F.,Stadermann, F. J. Elsevier 1999 SIMS Vol.12 No.-
Elemental distribution in cephalopod statoliths: NanoSIMS provides new insights into nano-scale structure
Zumholz, K., Hansteen, T., Hillion, F., Horreard, Springer Science + Business Media 2007 Reviews in Fish Biology and Fisheries Vol.17 No.2-3
3D Atom Probe and SIMS as Complementary Techniques for the Observation and Quantitative Measurement of Microstructures
Renaud, L., Martin, I., Hillion, F., Horreard, F. Cambridge University Press 2008 Microscopy and Microanalysis Vol.14//SUP2 No.-
Shallow As dose measurements of patterned wafers with secondary ion mass spectrometry and low energy electron induced x-ray emission spectroscopy
Ehrke, H.-U., Loibl, N., Moret, M.P., Horreard, F. American Vacuum Society; 1999 2010 Journal of Vacuum Science & Technology. B Vol.28 No.1
Advanced secondary ion mass spectroscopy quantification in the first few nanometer of B, P, and As ultrashallow implants
Merkulov, A., Peres, P., Choi, S., Horreard, F., E American Vacuum Society; 1999 2010 Journal of Vacuum Science & Technology. B Vol.28 No.1
Recent developments in thin film analysis by SIMS and EPMA
Horreard, F. Sfv; 1999 2000 VIDE -PARIS- Vol.- No.295//SUP2
Recent developments in SIMS instrumentation
Horreard, F. SIGMA-NOT 2000 ELEKTRONIKA -WARSAW- WYDAWNICTWA CZASOPISM TECHNIC Vol.41 No.11
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