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Brodusch, L., Sanchez, J. C. THE ASSOCIATION FOR WORK PROCESS IMPROVEMENT 2003 WIRE JOURNAL INTERNATIONAL Vol.36 No.8
Electron backscatter diffraction applied to lithium sheets prepared by broad ion beam milling
Brodusch, N., Zaghib, K., Gauvin, R. John Wiley & Sons, Ltd 2015 Microscopy Research and Technique Vol.78 No.1
Nanometres-resolution Kikuchi patterns from materials science specimens with transmission electron forward scatter diffraction in the scanning electron microscope
BRODUSCH, N., DEMERS, H., GAUVIN, R. Blackwell Publishing Ltd 2013 Journal of Microscopy Vol.250 No.1
Ionic liquid-based observation technique for nonconductive materials in the scanning electron microscope: Application to the characterization of a rare earth ore
Brodusch, N., Waters, K., Demers, H., Gauvin, R. John Wiley & Sons, Ltd 2014 Microscopy Research and Technique Vol.77 No.3
Dark-field imaging based on post-processed electron backscatter diffraction patterns of bulk crystalline materials in a scanning electron microscope
Brodusch, N., Demers, H., Gauvin, R. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2015 Ultramicroscopy Vol.148 No.-
High-resolution imaging and X-ray microanalysis in the FE-SEM
Brodusch, N., Demers, H., Trudeau, M., Gauvin, R. John Wiley & Sons, Ltd 2014 Surface and interface analysis Vol.46 No.12-13
The qualitative f‐ratio method applied to electron channelling‐induced x‐ray imaging with an annular silicon drift detector in a scanning electron microscope in the transmission mode
BRODUSCH, NICOLAS, GAUVIN, RAYNALD Wiley-Blackwell 2017 Journal of Microscopy Vol.267 No.3
About the contrast of δ' precipitates in bulk al–cu–li alloys in reflection mode with a field‐emission scanning electron microscope at low accelerating voltage
BRODUSCH, NICOLAS, VOISARD, FRÉDÉRIC, GAUVIN, RAYN Wiley-Blackwell 2017 Journal of Microscopy Vol.268 No.2
Phase differentiation based on x-ray energy spectrum correlation with an energy dispersive spectrometer (EDS)
Brodusch, Nicolas Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2022 Ultramicroscopy Vol.238 No.-
Dark-Field Imaging of Thin Specimens with a Forescatter Electron Detector at Low Accelerating Voltage
Brodusch, N., Demers, H., Gauvin, R. Cambridge University Press 2013 Microscopy and Microanalysis Vol.19 No.6
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