RISS 처음 방문이세요?
학술연구정보서비스 검색
MyRISS
회원서비스
설정
About RISS
RISS 처음 방문 이세요?
고객센터
RISS 활용도 분석
최신/인기 학술자료
해외자료신청(E-DDS)
RISS API 센터
해외전자정보서비스 검색
Databases & Journals
해외전자자료 이용안내
해외전자자료 통계
http://chineseinput.net/에서 pinyin(병음)방식으로 중국어를 변환할 수 있습니다.
변환된 중국어를 복사하여 사용하시면 됩니다.
최근 검색 목록
통합검색 DB 원하는 DB만 선택하여 검색하실 수 있습니다.
A~C
D~L
M~W
- 해외DB품목별 바로가기 버튼()을 통하여 직접 접속 하시면, 접근 권한이 있는 이용자에 한해 DB별 검색 가능
- JCR, PML, ProQuest Central 품목은 체크박스에 개별 선택을 통한 제한 검색 불가
※ 구독기관 소속 이용자에 한하여 품목명 오른편의 바로가기 버튼() 으로 직접 접속이 가능하며, JCR은 통합검색 후 출력되는 화면 내에서도 이용 가능
개별검색 DB통합검색이 안되는 DB는 DB아이콘을 클릭하여 이용하실 수 있습니다.
전분야 전자저널
전분야 신문기사
교육분야
전분야
영어사전
법학분야
통계정보 및 조사/분석시스템
해외석박사학위논문 목록
해외석박사학위논문 원문
예술 / 패션
법률/뉴스정보(미국, 영연방)
법률/뉴스정보(일본)
법률/뉴스정보(중국)
법률/뉴스정보(프랑스)
<해외전자자료 이용권한 안내>
- 이용 대상 : RISS의 모든 해외전자자료는 교수, 강사, 대학(원)생, 연구원, 대학직원에 한하여(로그인 필수) 이용 가능
- 구독대학 소속 이용자: RISS 해외전자자료 통합검색 및 등록된 대학IP 대역 내에서 24시간 무료 이용
- 미구독대학 소속 이용자: RISS 해외전자자료 통합검색을 통한 오후 4시~익일 오전 9시 무료 이용
※ 단, EBSCO ASC/BSC(오후 5시~익일 오전 9시 무료 이용)
RISS 인기검색어
검색결과 좁혀 보기
좁혀본 항목 보기순서
오늘 본 자료
Electron and Ion Beam Analysis of Composition and Strain in Si~1~-~x Ge~x/Si Heterostructures
Armigliato, A. SPRINGER VERLAG 1994 Mikrochimica acta Vol.114-115 No.COM
Strain Analysis in Submicron Electron Devices by Convergent Beam Electron Diffraction
Armigliato, A., Balboni, R., Frabboni, S., Benedet Springer; 1999 2002 LECTURE NOTES IN PHYSICS -NEW YORK THEN BERLIN- Vol.- No.588
Strain determination in submicron isolation structure by TEM/CBED
Armigliato, A.,Balboni, R.,Balboni, S.,Frabboni, S Institute of Physics Publishing 1999 CONFERENCE SERIES- INSTITUTE OF PHYSICS Vol.- No.164
Strain analysis in sub-micron silicon devices by TEM/CBED
Armigliato, A., Balboni, R., Frabboni, S., Benedet Philadelphia; Institute of Physics; 1999 2001 CONFERENCE SERIES- INSTITUTE OF PHYSICS Vol.169 No.-
A Novel Monte-Carlo Based Method for Quantitative Thin Film X-Rax Microanalysis
Armigliato, A. SPRINGER VERLAG 2000 Mikrochimica acta Vol.132 No.2-4
SEM and TEM X-Ray Microanalysis of Si~1~-~xGe~x/Si Heterostructures
Armigliato, A., Kittler, M., Govoni, D., Laerz, J. Les Editions de Physique 1994 ELECTRON MICROSCOPY -INTERNATIONAL CONGRESS- Vol.1 No.-
Energy dispersive x-ray microanalysis in transmission electron microscopy
Armigliato, A. Editrice Compositori 1998 PROCEEDINGS OF THE EUROPEAN CONFERENCE ON ENERGY D Vol.- No.-
TEM/CBED determination of strain in silicon-based submicrometric electronic devices
Armigliato, A.,Balboni, R.,Balboni, S.,Frabboni, S Pergamon 2000 MICRON Vol.31 No.3
Characterization of the PSG/Si interface of H3PO4 doping process for solar cells
Armigliato, A., Nobili, D., Solmi, S., Blendin, G. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2011 Solar Energy Materials and Solar Cells Vol.95 No.11
Strain mapping in deep sub-micron Si devices by convergent beam electron diffraction in the STEM
Armigliato, A., Balboni, R., Frabboni, S. EDP SCIENCES 2004 EPJ APPLIED PHYSICS Vol.27 No.1-3
이 검색어로 많이 본 자료
활용도 높은 자료