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이현진(Hyunjin Lee),김원택(Yuanze Jin),유영훈(Younghoon Yu),조근식(Geunsik Jo) 한국정보과학회 2009 한국정보과학회 학술발표논문집 Vol.36 No.1
차량경로문제는 지리적으로 산재해 있는 고객들에게 서비스를 수행하고 다시 차고지로 복귀하는데 소요되는 비용을 최소화하도록 차량의 경로를 결정하는 문제이다. 본 논문에서는 NP-hard 문제로 잘 알려진 차량경로문제를 풀기 위하여 빈발 경로 패턴을 이용한 메타 휴리스틱 해법을 제안한다. 이는 좋은 해의 집합에서 빈번히 발생하는 경로의 패턴을 이용하여 더욱 합리적인 해의 공간을 탐색함으로써 개선된 해를 발견할 수 있게 해준다. 본 메타 휴리스틱의 성능 비교를 위하여 기존의 알려진 다양한 휴리스틱들과 비교 실험을 하였으며 기존의 결과보다 향상되었음을 보였다.
고온에서 전기적인 Wafer 특성 검사 시 Probe Mark 변화 연구
김승완(Seungwan KIM),손기복(Kibok SON),김경호(Kyungho KIM),유영훈(Younghoon Yu) 대한기계학회 2012 대한기계학회 춘추학술대회 Vol.2012 No.11
Semiconductor cost is decreased and the number of pin increase rapidly by the need of customer. The failure of probe mark change is increasing in the automatic test equipment because the pad size in the wafer chip is decreasing rapidly by chip shrink. So we have found out about the wafer expansion characteristics and changed algorithm to minimize probe mark change when we test wafer in hot temperature condition. And we analyzed the probe mark’s variation according to probe card array type and arrived at most suitable application array type. We developed 2’nd reticle about precision of recursion modulus and Stage Unit of Prober equipment heat transformation as condition of actual probing and finished it which it applied to scene after mass-production evaluation. This paper will help to increase quality of the domestic wafer test industry and the production volume.