RISS 학술연구정보서비스

검색
다국어 입력

http://chineseinput.net/에서 pinyin(병음)방식으로 중국어를 변환할 수 있습니다.

변환된 중국어를 복사하여 사용하시면 됩니다.

예시)
  • 中文 을 입력하시려면 zhongwen을 입력하시고 space를누르시면됩니다.
  • 北京 을 입력하시려면 beijing을 입력하시고 space를 누르시면 됩니다.
닫기
    인기검색어 순위 펼치기

    RISS 인기검색어

      검색결과 좁혀 보기

      선택해제

      오늘 본 자료

      • 오늘 본 자료가 없습니다.
      더보기
      • 무료
      • 기관 내 무료
      • 유료
      • 단일전자 다중접합 트랩의 대전에너지와 문턱전압

        문성왕,강동식,강영봉 濟州大學校 師範大學 科學敎育硏究所 1999 科學敎育 Vol.16 No.-

        Based on the analytic solution to the electrostatic problem of the multi-junction trap with equal N-junction capacitances C and a well capacitance Cw, we obtain explicit expressions for the charging energy, the GiMs free energy, the energy barrier height and the threshold voltage. In particular, when an electron is already trapped in the store island, we analyze the effect of the well capacitance and the number of junction for single electron multi-junction txap. In the C_(w)/C>3/Ncase, an electron can be trapped in the store island height depernds on the number of junction, the value of barrier height is Ne^(2)/8C for C_(w)/C>1. Thus, when N is large and C_(w)/C is large, it is favor of trapping electron in the store island. We find that multi-junction trap with small well capacitance is not suitable for studying the single electron trap. The threshold voltage is proportioned to the bias voltage U and the number of junction N

      연관 검색어 추천

      이 검색어로 많이 본 자료

      활용도 높은 자료

      해외이동버튼