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1993년
eng
0161-6374
학술저널
PROCEEDINGS- ELECTROCHEMICAL SOCIETY PV
390-399 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
156677067X
Reliability for semiconductor devices, interconnects and thin insulator materials
Symposium; Spring meeting
Honolulu; HI
1993; May
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