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이 학술지의 논문 검색
Abnormal high rate deposition of TiN films by the radio frequency plasma jet system
Barankova, H Princeton Microfilm Corp 1995 p.p883
Analysis of charge components induced by Fowler-Nordheim tunnel injection in silicon oxides
Roh, Y Princeton Microfilm Corp 1995 p.p1015
Application of ion mobility spectrometry to semiconductor technology: Outgassings of advanced
Budde, K.J Princeton Microfilm Corp 1995 p.p888
Aqueous polyiodide spectroscopy and equilibria and its effect on n-WSE2 photoelectrochemistry
Licht, Stuart Princeton Microfilm Corp 1995 p.p845
Area-selective diffusion of Zn in InP/In0.53Ga0.47As/InP for lateral pn photodiodes
Klockenbrink, R Princeton Microfilm Corp 1995 p.p985
Atmospheric corrosion effects of SO2 and NO2: A comparison of laboratory and field-exposed copper
Tidblad, J Princeton Microfilm Corp 1995 p.p749
Atmospheric corrosion effects of SO2 and O3 on laboratory-exposed copper
Zakipour, S Princeton Microfilm Corp 1995 p.p757
Behavior of ultrafine metallic particles on silicon wafer surface
Morinaga, Hitoshi Princeton Microfilm Corp 1995 p.p966
Binding of ether and carbonyl oxygens to lithium ion
Blint, Richard J Princeton Microfilm Corp 1995 p.p696
Cation electrolytic modification of n-WSe2/aqueous polyiodide photoelectrochemistry
Licht, Stuart Princeton Microfilm Corp 1995 p.p840
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