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The future of focused electron beam-induced processing
Hagen, C. W. Springer Science + Business Media 2014 p.1599-1605
Industrial perspective on focused electron beam-induced processes
Bret, T.; Hofmann, T.; Edinger, K. Springer Science + Business Media 2014 p.1607-1614
Sub-10 nm writing: focused electron beam-induced deposition in perspective
Dorp, W. F. Springer Science + Business Media 2014 p.1615-1622
Advances in gas-mediated electron beam-induced etching and related material processing techniques
Toth, M. Springer Science + Business Media 2014 p.1623-1629
Spencer, J. A.; Rosenberg, S. G.; Barclay, M.; Wu, Y. C.; McElwee-White, L.; Howard Fairbrother, D. Springer Science + Business Media 2014 p.1631-1644
Present and future applications of magnetic nanostructures grown by FEBID
Teresa, J. M.; Fernández-Pacheco, A. Springer Science + Business Media 2014 p.1645-1658
Focused-electron-beam-induced processing (FEBIP) for emerging applications in carbon nanoelectronics
Fedorov, A. G.; Kim, S.; Henry, M.; Kulkarni, D.; Tsukruk, V. V. Springer Science + Business Media 2014 p.1659-1674
Spatial chemistry evolution during focused electron beam-induced deposition: origins and workarounds
Winkler, R.; Geier, B.; Plank, H. Springer Science + Business Media 2014 p.1675-1688
Dielectric sensing by charging energy modulation in a nano-granular metal
Huth, M.; Kolb, F.; Plank, H. Springer Science + Business Media 2014 p.1689-1696
Purity and resistivity improvements for electron-beam-induced deposition of Pt
Mulders, J. J. Springer Science + Business Media 2014 p.1697-1704
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