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      Optimisation of Readout Performance of Phase-Change Probe Memory in Terms of Capping Layer and Probe Tip

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      https://www.riss.kr/link?id=A105872237

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      다국어 초록 (Multilingual Abstract)

      The capping layer and the probe tip that serve as the protective layer and the recording tool, respectively, for phase-change probe memory play an important role on the writing performance of phase-change probe memory, thus receiving considerable atte...

      The capping layer and the probe tip that serve as the protective layer and the recording tool, respectively, for phase-change probe memory play an important role on the writing performance of phase-change probe memory, thus receiving considerable attention. On the other hand, their influence on the readout performance of phasechange probe memory has rarely been reported before. A three-dimensional parametric study based on the Laplace equation was therefore conducted to investigate the effect of the capping layer and the probe tip on the resulting reading contrast for the two cases of reading a crystalline bit from an amorphous matrix and reading an amorphous bit from a crystalline matrix. The results indicated that a capping layer with a thickness of 2 nm and an electrical conductivity of 50 Ω−1m−1 is able to provide an appropriate reading contrast for both the cases, while satisfying the previous writing requirement, particularly with the assistance of a platinum silicide probe tip.

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      참고문헌 (Reference)

      1 J. Gantz, IDC Tech 2011

      2 L. Wang, 50 : 1-, 2011

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      9 S. Gidon, 85 : 6392-, 2004

      10 C. D. Wright, 10 : 900-, 2011

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      11 H. Bhaskaran, 20 : 105701-, 2009

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      13 M. M. Aziz, 97 : 103557-, 2005

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      20 S. Senkader, 95 : 504-, 2004

      21 최철민, "Enhanced Magnetic Properties of Bit Patterned Magnetic Recording Media by Trench-Filled Nanostructure" 대한금속·재료학회 6 (6): 113-116, 2010

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      연월일 이력구분 이력상세 등재구분
      학술지등록 한글명 : Electronic Materials Letters
      외국어명 : Electronic Materials Letters
      2023 평가예정 해외DB학술지평가 신청대상 (해외등재 학술지 평가)
      2020-01-01 평가 등재학술지 유지 (해외등재 학술지 평가) KCI등재
      2013-10-01 평가 등재학술지 선정 (기타) KCI등재
      2011-01-01 평가 등재후보학술지 유지 (기타) KCI등재후보
      2009-12-29 학회명변경 한글명 : 대한금속ㆍ재료학회 -> 대한금속·재료학회 KCI등재후보
      2008-01-01 평가 SCIE 등재 (신규평가) KCI등재후보
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      학술지 인용정보

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      기준연도 WOS-KCI 통합IF(2년) KCIF(2년) KCIF(3년)
      2016 1.68 0.41 1.08
      KCIF(4년) KCIF(5년) 중심성지수(3년) 즉시성지수
      0.89 0.83 0.333 0.06
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